粉體行業(yè)在線展覽
面議
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上海昊量光電提供Atlas系列2維光譜視覺(jué)系統(tǒng)(成像色度計(jì))結(jié)合了光譜儀有點(diǎn)和高分辨率相機(jī)兩款設(shè)備的獨(dú)特系統(tǒng),為顯示器、LED顯示屏和其它顯示器件的視覺(jué)檢測(cè)提供真實(shí)的顏色測(cè)量特性。另外,該系統(tǒng)也可以進(jìn)一步擴(kuò)展增加色度計(jì)的功能,可以用作閃爍測(cè)量。
系統(tǒng)具有高度的靈活性,通過(guò)一個(gè)預(yù)先定義好,龐大的函數(shù)庫(kù),而該函數(shù)庫(kù)已經(jīng)被整合在一個(gè)非常容易使用的語(yǔ)言腳本里,*終用戶可以按照自己的需求編寫測(cè)試流程方案。
色度計(jì),光度計(jì),亮度計(jì),照度計(jì),LED顯示屏檢測(cè),LCD顯示屏檢測(cè),MURA檢測(cè),白點(diǎn)檢測(cè),顯示屏壞點(diǎn)檢測(cè),顯示屏色度監(jiān)測(cè),表面平整度檢測(cè),表面光澤度檢測(cè)
產(chǎn)品特點(diǎn):可見(jiàn)光譜測(cè)量(380nm~780nm)
?亮度和色度測(cè)量
二維亮度和色度校準(zhǔn)輸出
二維均勻性檢測(cè)
二維Mura檢測(cè)(Black,Cloud,blob,line)
塊狀或區(qū)域?qū)Ρ?br/>確定區(qū)域比較
像素/線缺陷檢測(cè)
用戶自定義測(cè)試流程腳本
合格/不合格測(cè)量
數(shù)據(jù)記錄(用戶自定義)
無(wú)需校準(zhǔn)儀器(無(wú)需培訓(xùn))
基本規(guī)格參數(shù):
典型的測(cè)試項(xiàng)目
色度、亮度均勻性 | 通過(guò)DFF均勻性算法 |
線缺陷 | 通過(guò)ADMESY算法 |
斑狀缺陷 | 通過(guò)ADMESY MURA算法 |
異物(灰塵等) | 通過(guò)DFF MURA算法 |
像素缺陷 | 通過(guò)DFF MURA和顏色均勻性算法 |
漏光(邊緣Mural) | 通過(guò)顏色均勻性算法 |
色斑檢測(cè) | 通過(guò)DFF均勻性算法 |
相機(jī)參數(shù)
參數(shù) | 800萬(wàn)像素 | 1600萬(wàn)像素相機(jī) |
分辨率 | 3312×2488 | 4872 × 3248 |
探測(cè)器 | KAI-08050 TrueSense CCD | KAI-16000 TrueSense |
LHTG/LHTM/LHTW
Empyrean
V-Sorb4800-金埃譜
EMIA-820V
Hydrolink
Autoflex R837
3H-2000A
SQL810C/1010C
UNI800B
電磁波波譜濃度儀
BI-ZTU