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參考報(bào)價(jià)：

	面議	型號(hào)：	AFM5500M
品牌：	日立	產(chǎn)地：	日本
樣本：	【暫無(wú)】	信息完整度：
典型用戶(hù)：	0

1. 自動(dòng)化功能

• 高度集成自動(dòng)化功能追求高效率檢測(cè)

• 降低檢測(cè)中的人為操作誤差

  
  

2. 可靠性

排除機(jī)械原因造成的誤差

大范圍水平掃描

采用管型掃描器的原子力顯微鏡，針對(duì)掃描器圓弧運(yùn)動(dòng)所產(chǎn)生的曲面，通常通過(guò)軟件校正方式獲得平面數(shù)據(jù)。但是，用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運(yùn)動(dòng)的影響，圖片上經(jīng)常發(fā)生扭曲效果。
AFM5500M搭載了**研發(fā)的水平掃描器，可實(shí)現(xiàn)不受圓弧運(yùn)動(dòng)影響的準(zhǔn)確測(cè)試。

高精角度測(cè)量

普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器，在豎直伸縮的時(shí)候，會(huì)發(fā)生彎曲（crosstalk）。這是圖像在水平方向產(chǎn)生形貌誤差的直接原因。
AFM5500M中搭載的全新掃描器，在豎直方向上不會(huì)發(fā)生彎曲（crosstalk） ，可以得到水平方向沒(méi)有扭曲影響的正確圖像。

3. 融合性

親密融合其他檢測(cè)分析方式

通過(guò)SEM－AFM的共享坐標(biāo)樣品臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌，結(jié)構(gòu)，成分，物理特性等。

•     通過(guò)分析AFM圖像可以判斷，SEM對(duì)比度表征石墨烯層的厚薄。

•     石墨烯層數(shù)不同導(dǎo)致表面電位（功函數(shù)）的反差。

•      SEM圖像對(duì)比度不同，可以通過(guò)SPM的高精度3D形貌測(cè)量和物理特性分析找到其原因。

與其他顯微鏡以及分析儀器聯(lián)用正在不斷開(kāi)發(fā)中。