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高性能納米級(jí) FTIR 光譜

只有 nanoIR3-s 能夠提供：

• 高性能納米級(jí) FTIR 光譜

• 高性能紅外近場(chǎng)光譜，采用目前先進(jìn)的納米紅外激光源

• 納米級(jí) FTIR 光譜，采用集成式DFG，可與寬帶同步輻射光源集成

• 適用于光譜和化學(xué)成像的多芯片 QCL 激光源

點(diǎn)光譜技術(shù)

POINTspectra 激光器可執(zhí)行多個(gè)波長(zhǎng)的光譜分析和高分辨光學(xué)成像。nanoIR3-s讓測(cè)試更加簡(jiǎn)單：

·在 AFM 圖像中選擇要測(cè)量的特征

·測(cè)量樣品的波譜，選擇感興趣的波長(zhǎng)

·采集高分辨光學(xué)屬性圖

根據(jù)對(duì)多個(gè)波長(zhǎng)的干涉圖的快速測(cè)量，獲得空間分辨率達(dá)到 10nm 的振幅和相位圖像     實(shí)現(xiàn) 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于獨(dú)特的互補(bǔ)性紅外光譜分析。

支持全系列掃描探針顯微鏡模式

Contact Mode（接觸模式）

Tapping Mode（輕敲模式）

Lateral Force Microscope（橫向力/摩擦力顯微鏡）

Phase Imaging（相位成像）

Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)

Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)

Conductive Atomic Force Microscopy (導(dǎo)電原子力顯微鏡)

Kelvin Probe Force Microscopy (開爾文探針力顯微鏡)

Force Curve Spectroscopy（力曲線）

Liquid Imaging（液態(tài)環(huán)境掃描）

Heater-Cooler Imaging（高低溫環(huán)境掃描）

SThM（掃描熱顯微鏡）

Nano-TA（納米熱分析）

LCR（洛倫茲納米力學(xué)分析）