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Catalina中階梯光柵光譜儀EMU-120/65

直接聯(lián)系

北京睿光科技有限責(zé)任公司

英國

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報價:

面議

關(guān)注度:

634

產(chǎn)品介紹

EMU-120/65是一款能夠兼顧高通光量、高分辨率和寬光譜測量的中階梯光柵光譜儀,采用數(shù)值孔徑F/3的光學(xué)設(shè)計,波長范圍190-1100nm,分辨力60,000(λ/FWHM),并獲得美國**保護。EMU-120/65中階梯光柵光譜儀是LIBS、拉曼、OES/AES、光致發(fā)光等測量的理想工具,相比F/10中階梯光柵光譜儀,靈敏度提高10倍以上。

EMU-120/65的另一大優(yōu)勢可以選用EMCCD相機,相比于ICCD相機具有更高的量子效率、分辨率和幀頻,而且EMCCD相機不會輕易被強光損壞,對使用條件的要求不高。

此外,超低雜散光的光學(xué)設(shè)計加上軟件控制的雜散光去除算法,使得EMU-120/65成為一款針對吸收光譜測量非常強大的儀器。

產(chǎn)品特點:

- 高通光量F/3

- 光譜分辨力60,000λ/FWHM

- 寬光譜范圍190-1100nm(可選400-1700nm

- 無需機械掃描,一次曝光獲得全光譜

- 用戶可自行更換光柵和入射狹縫,靈活調(diào)整通光量和分辨率

光譜分辨力

EMU-120/65**的光學(xué)設(shè)計實現(xiàn)了單個像素的分辨力。能夠清晰分辨汞Hg的雙峰313.155nm和313.184nm。每個峰對應(yīng)一個CCD像素寬度(8微米),F(xiàn)WHM值0.0049nm ,分辨力63,000。

通光量/收光效率

下圖是EMU中階梯光柵光譜儀(藍色)和SE 200中階梯光柵光譜儀(紅色)測量氘/鹵鎢燈的光譜對比,其中EMU數(shù)值孔徑F/3,SE 200數(shù)值孔徑F/10,兩臺光譜儀采用相同的光柵、相機和狹縫。

下圖是鐵元素Fe的LIBS光譜對比,EMU中階梯光柵光譜儀搭配EMCCD(藍色),SE 200中階梯光柵光譜儀搭配ICCD(紅色)。

雜散光和散射光

下圖的過度曝光的HeNe激光線顯示了主要是由光柵引起的小角度散射。散射光被測量為HeNe峰值強度的一部分,并且它在距離峰值1納米處下降到CCD動態(tài)范圍極限以下。EMU-120/65旨在* 大限度地減少受散射影響區(qū)域的雜散光。

產(chǎn)品指標(biāo):

數(shù)值孔徑

F/3

焦長

120mm

放大率

0.54

波長范圍

190-1100nm

散射光

2.0 x 10-5 @ 1nm HeNe激光

雜散光

2.0 x 10-6

光纖輸入

SMA接頭

入射狹縫

用戶可以自行更換不同規(guī)格的狹縫

狹縫寬度8-128微米,狹縫高度12-128微米

光譜分辨力

用戶可以自行更換不同型號的光柵,不同型號對應(yīng)不同的分辨力R

HT Series: up to R = 9,500

HR Series: up to R = 12,000

UV Series: up to R = 30,000

IS Series: up to R = 40,000

IX Series: up to R = 60,000

產(chǎn)品咨詢

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