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產(chǎn)品>
粉體測試設(shè)備>
>OPTINO波前測試系統(tǒng)
直接聯(lián)系
光傲科技股份有限公司
意大利
面議
407
不僅僅是一個波前探測系統(tǒng),
更是一個完整光學綜合測試系統(tǒng)
不僅可以用于實驗室光學測試,
也可以適用于生產(chǎn)環(huán)境條件
主要型號及功能特點
產(chǎn)品系列
主要特點
Omi
基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理,基本型,價格優(yōu)惠
Optino Uno
基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理,基本型增加一個固定的準直器,用于光源準直。具有所有光學分析所需的基本功能,包含光纖光源。
15 種針對不同測試需求的配置
無隔行快速讀出 1Kx1K 相機信號
固定準直器(平行光管)
基本的夏克-哈特曼Shack-Hartmann分析功能:Zernike多項式系數(shù)、波陣面、Strehl Ratio 等.
軟件根據(jù)測到的像散、球差等提供調(diào)校指令
根據(jù)軟件的圖形指示,依據(jù)參照標準或鏡面的CCD像面,對光學元件的焦距進行實時斜率調(diào)整
圖像分析功能
根據(jù)Shack-Hartmann 數(shù)據(jù)計算MTF、PSF、EE等數(shù)據(jù)(可選配置)
仿真模擬功能(可選配置)
Optino Pro 專業(yè)版
具備Optino Uno 功能外, 增加馬達驅(qū)動的準直器(平行光管),以及先進的軟件功能,具備高度自動化。準直器可自動尋找焦點,也可對光束進行分析。
Optino EE 工程版
具備Optino Pro 所有功能,具備更強大的軟件功能,并經(jīng)過優(yōu)化,可以使用生產(chǎn)環(huán)境中使用,測試速度快。采用回饋 環(huán)路控制,并以10Hz的采樣頻率進行光學質(zhì)量測試。
Optino+ Beam profiler 光束分析
具備Optino Pro所有功能, 另外加裝第二個CCD,用于光斑形貌分析,光束失常及測量可同時在一臺設(shè)備上實現(xiàn)。
通過使用Zygo GPI xp HR干涉儀和Spot-Optics公司的Optino 波前測試系統(tǒng)對一個硬盤上小面積(7mm)區(qū)域,進行測試對比。
右圖白色圓圈位置的區(qū)域即為測試區(qū)域,是一個平整的表面,測試的波長為632nm,下圖為主要測試得到的參數(shù)對比:
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