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便攜式光譜反射測試儀(近紅外)

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387

產(chǎn)品介紹

PSR 即Laboratory Portable SpectroReflectometer,獨(dú)特的采用積分球設(shè)計(jì)對大部分的材料表面進(jìn)行半球光譜反射率快速測定,光譜范圍250 to 2800 nm 。主要根據(jù)ASTM E903 規(guī)范,對太陽吸收進(jìn)行測定 .可同時(shí)提供用于真空環(huán)境測試版本 LPSR 300V.

LPSR 300 采用Windows XP 操作系統(tǒng)傻瓜式圖形操作界面。自動(dòng)操作模式可以選擇波長起止范圍,步進(jìn)間距。結(jié)果顯示為不同波長的反射率值,并自動(dòng)計(jì)算太陽吸收。手動(dòng)模式可選擇光源、探測器、狹縫寬度及增益。

LPSR 300 是一個(gè)獨(dú)立的測試系統(tǒng),無需其它硬件。系統(tǒng)提供外接顯示器和鍵盤接口。內(nèi)置硬盤可存儲幾千次樣品掃描測試結(jié)果,非常適合野外和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境使用。

LPSR300 同時(shí)系統(tǒng)集成了光學(xué)數(shù)據(jù)庫,可以和測試的結(jié)果進(jìn)行比對。

LPSR是根據(jù)NASA需求設(shè)計(jì)研制,用于俄羅斯MIR空間站太空行走

Wavelength250 to 2800 nm
Monochromatic Type Prism, with selectable wavelength and slit width
Repeatability-250 to 2500 nm- ± 1%

-2500 to 2800 nm- ± 2 %

Sample sizes 0.5 inches in diameter or larger
Measurement type Spectral Total Hemispherical Reflectance
Spectral resolution with automatic slit control

-250 to 2500 nm - better than 5% of wavelength

-2500 to 2800 nm - better than 8% of wavelength

Full scan measurement time Less than 2 minutes
Power required 115 VAC/60 Hz

Dimensions

-Measurement Head: 10 x 12 x 8 inches

-PC/Power Box: 9 x 16 x 20 inches

-Instrument Head Carrying Case: 10 x 11.5 x 16 inches

Weight -Measurement Head: 15 Pounds

-PC/Power Box: 35 Pounds

Warranty 1 year parts and labor

*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably.(Alternative option to SOC, 410, 400T, directional reflectometer

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