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單點開爾文探針系統(tǒng)

直接聯(lián)系

上海沃埃得貿(mào)易有限公司

英國

產(chǎn)品規(guī)格型號
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面議

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540

產(chǎn)品介紹

開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢,表面功函由材料表面*頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術,KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界**分辨率的測試系統(tǒng)。

特點**的功函/表面電勢分辨率:1-3meV2mm探針)與壓電系統(tǒng)相比采用音圈驅(qū)動具有很高的驅(qū)動噪聲抑制過零信號檢測系統(tǒng)極大的提高了分辨率,信噪比性能****測試和掃描時探針尖與樣品的高度調(diào)節(jié)功能可得到穩(wěn)定的、可靠的和重復的結果探針參數(shù)全部采用數(shù)字控制

系統(tǒng)參數(shù) ● 2mm and 50μm探針功函分辨率1-3meV2mm探針),5-10meV50μm探針,光學防震臺)手動高度控制(25.4mm KP 平移)跟蹤系統(tǒng)自動控制樣品和探針距離過零信號檢測系統(tǒng)抑制寄生電容軟件性能數(shù)字控制所有開爾文探針參數(shù)簡單的信號優(yōu)化設置過程快速測量模式用于跟蹤實時功函變化(1000points/min at ~20meV分辨率)選件樣品加熱器 Sample Heater

可升級至掃描系統(tǒng)可升級至RHC系統(tǒng)表面光電壓模塊SPV020 and SPS030

鍍金探針

產(chǎn)品咨詢

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