粉體行業(yè)在線展覽
面議
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FLEXTM是來(lái)自于CRAIC科技公司的一款經(jīng)濟(jì)但是功能強(qiáng)大的紫外-可見(jiàn)-近紅外顯微分光光度計(jì)。FLEXTM可以對(duì)微米量級(jí)的樣品進(jìn)行無(wú)損的吸收、反射和熒光光譜測(cè)試。
FLEXTM顯微分光光度計(jì)從命名上可以看出是一款具有非常好靈活性的儀器。
FLEXTM能夠只使用一個(gè)鏡頭測(cè)量微光樣品從深紫外到近紅外范圍的光譜。設(shè)計(jì)的靈活性和經(jīng)濟(jì)性,模糊了科研級(jí)和工業(yè)使用的顯微分光光度計(jì)的界限。儀器操作簡(jiǎn)單易用和功能的強(qiáng)大適合于法醫(yī)鑒定和工業(yè)品質(zhì)檢測(cè)。
FLEXTM顯微分光光度計(jì)的特點(diǎn)是將高靈敏度CCD陣列探測(cè)器支柱整合到光度計(jì)上。每個(gè)探測(cè)器都是用TE冷卻技術(shù)達(dá)到降低噪聲和保證長(zhǎng)時(shí)工作穩(wěn)定性的要求,這使得儀器保持了非常優(yōu)良的信噪比。FLEXTM包含了一臺(tái)紫外-可見(jiàn)-近紅外顯微鏡,一套高分辨率彩色成像系統(tǒng),紫外防護(hù)目鏡,一臺(tái)運(yùn)行Windows7專業(yè)版系統(tǒng)的主機(jī)和一套整合光譜分析/儀器控制的軟件包。FLEXTM操作簡(jiǎn)單、使用長(zhǎng)久耐用,能夠提供出非常尖端的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
應(yīng)用
痕量證據(jù) 文檢 表面等離子共振 半導(dǎo)體薄膜厚度
光譜范圍 | 240 to 900 nm |
反射光譜范圍 | 400-900nm |
熒光光譜范圍 | 400-900nm |
熒光激發(fā) | 365-546nm |
采集面積 | 1-10000平方微米 |
熒光發(fā)射 | 254-546nm |
光譜分辨率 | 1-15nm可調(diào) |
探測(cè)器 | CCD陣列 |
探測(cè)器制冷 | 半導(dǎo)體制冷 |
掃描時(shí)間(全光譜) | *小4ms |
成像 | 彩色 |
成像分辨率 | 高達(dá)500萬(wàn)像素 |
操作系統(tǒng) | Windows 7 ,8 |
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
近紅外光譜分析儀(點(diǎn)擊可看詳細(xì)資料)
火焰光度計(jì)
Metorex C100型
ARL? PERFORM'X
UV9600D
全譜直讀光譜儀