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AtomTrace激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀

直接聯(lián)系

上海凱來(lái)儀器有限公司

捷克

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
參考報(bào)價(jià):

面議

關(guān)注度:

893

產(chǎn)品介紹

Atom Trace的Sci-Trace多元素化學(xué)分析系統(tǒng)利用當(dāng)今*有前景的分析技術(shù)之一:激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS),實(shí)現(xiàn)了可模塊化、快速、簡(jiǎn)便的使用操作,具有快速測(cè)定元素組成、高分辨率的二維化學(xué)成像表面不均一的可視化、可進(jìn)行層狀材料的深度分析等特點(diǎn)。

◆高精度電動(dòng)載物臺(tái)

• 3軸電動(dòng)驅(qū)動(dòng)

• 高真空環(huán)境

• 直接裝在滑門(mén)上

各式各樣的樣品架可以放置不同形狀和尺寸的樣品,系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)檢測(cè)樣品架型號(hào),并在控制軟件的“樣品預(yù)覽”窗口中顯示.

◆樣品室

Sci-Trace有3種樣品室:

◆自定義您的實(shí)驗(yàn)

• 總共多達(dá)15個(gè)腔室輸入端口

• 11個(gè)瞄準(zhǔn)共同中心點(diǎn)

• 3種側(cè)板

• 1個(gè)大的觀察口過(guò)濾1064和532 nm波長(zhǎng))

安裝更多激光器可以實(shí)現(xiàn)雙脈沖/多脈沖LIBS ,來(lái)提高檢出限或者成像的分辨率;

安裝第二個(gè)光譜儀同時(shí)分析不同的等離子體或捕獲更多不同分辨率的光譜區(qū)域;

安裝一些附加模塊氣體模塊、相機(jī)模塊等;

安裝自己設(shè)計(jì)的模塊。

◆附加模塊-MPI基本輸入模塊

MPI是Sci-Trace的核心模塊,它可以將激光聚焦到樣品表面,并提供軟件上的樣品視圖功能,通常安裝在樣品室的頂部。

◆附加模塊-MPR壓力調(diào)節(jié)模塊

MPR可以快速調(diào)節(jié)樣品室內(nèi)的壓力,低壓和/或惰性氣體環(huán)境下,LIBS分析的信噪比會(huì)顯著提高,從而可以提高檢測(cè)限。MPR的主要組件隱藏在MPR架中,通過(guò)帶有電磁閥和過(guò)濾器的壓力軟管與真空樣品室和IO面板相連。

壓力范圍: 1-1300 mbar(a)

• 可以直接連接氣瓶

• 精確的自動(dòng)壓力調(diào)節(jié)

• 內(nèi)部壓力的外部指示器

• 排氣閥、安全閥、油/塵/污染物過(guò)濾器

◆附加模塊-輻射光譜收集模塊

MRC是有效收集等離子體輻射的光機(jī)系統(tǒng)

• UVFS/CaF2可調(diào)多透鏡系統(tǒng)

• 光譜范圍 200-1000 nm

SMA光纖輸出

• 安裝在一個(gè)端口上

◆附加模塊-MSC 輔助相機(jī)模塊

MSC是一個(gè)多功能相機(jī)模塊,可以在控制軟件中顯示實(shí)時(shí)圖像。

• 可變焦CMOS相機(jī)

• 外部觸發(fā)

• 適用于等離子成像或LIBS調(diào)節(jié)

• 安裝在一個(gè)端口上

不同壓力下等離子體的不同形狀

◆氣體模塊

MGE-抽氣模塊

• 主動(dòng)提取剝蝕下來(lái)的材料

• 過(guò)濾輸出

•安裝在一個(gè)端口上

MGP-氣體吹掃模塊

• 樣品表面清洗

• 創(chuàng)造局部惰性氣體環(huán)境

• 連續(xù)或觸發(fā)模式

•安裝在一個(gè)端口上

◆儀器托架

儀器托架承載著所有必要的LIBS部件和控制電子設(shè)備,并分為兩個(gè)隔間:儀器室和機(jī)架室。

◆控制軟件-Sci-Trace控制系統(tǒng)

Sci-Trace系統(tǒng)的控制軟件能夠控制樣品室和連接模塊的所有功能。

◆光譜處理軟件-AtomAnalyzer

AtomAnalyzer是LIBS的光譜處理軟件帶有獨(dú)特的功能結(jié)點(diǎn)庫(kù)設(shè)計(jì)將它們放在圖形化的工作區(qū)中,并將它們相互鏈接,以更直觀的方式來(lái)創(chuàng)建光譜處理流程。這種創(chuàng)新方法使標(biāo)準(zhǔn)且復(fù)雜的過(guò)程變得更快,更容易和更透明。

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AtomTrace激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀

上海凱來(lái)儀器有限公司

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