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SYNAPT XS高分辨率質(zhì)譜儀

直接聯(lián)系

上海暄泓科學儀器有限公司

美國

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報價:

面議

關注度:

997

產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品概述

§ SYNAPT XS質(zhì)譜儀具有**靈活性,可提供更大的選擇自由度

§ 憑借沃特世高級質(zhì)譜“SELECT SERIES”傳承下來的技術基石,內(nèi)置先進的創(chuàng)新技術,確保使用該平臺的科學家處于質(zhì)譜分析的*前沿,同時維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程。

§ 重新設計的分段四極桿傳輸光學元件,提升棘手化合物的分析靈敏度,同時進一步提高分析穩(wěn)定性。

§ 針對*復雜的樣品,提供兼容UPLC的質(zhì)量分辨率、耐受各種基質(zhì)的動態(tài)范圍和定量分析結果,同時提供**的性能指標。

優(yōu)勢特點

§ 創(chuàng)新技術作為基石,提供**異的分析性能

§ SONAR和HDMSE提供一套獨特的工具包,用于解析復雜混合物。

完整的分析策略需要結合適當?shù)幕パa技術才能得到更全面的數(shù)據(jù)信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數(shù)據(jù)依賴型采集(DIA)操作模式,分析人員能夠利用互補機制,以****的方式解析復雜混合物。

§ 離子淌度功能大大增加了峰容量和分析選擇性

§ 傳統(tǒng)質(zhì)譜儀基于m/z分離組分。SYNAPT XS還支持在離子淌度實驗中,使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數(shù),對分子進行分離。

§ CCS測量可提高化合物鑒定的準確性

離子CCS的測量結果有助于確定離子名稱或研究其結構。運用離子淌度技術,顯著提高了科學家分析復雜混合物和復雜分子的范圍和可信度。

§ CID與ETD碎裂功能

TriWave的雙碰撞室結構可進行碰撞誘導解離(CID)和/或電子轉移解離(ETD)碎裂,且分辨率高、質(zhì)量測定準確,能夠拓展MS/MS檢測能力。

§ TAP碎裂

配置

離子源

ESI、ESCi®、APCI、APPI、APGC、ASAP和 ionKey/ MS™

傳輸模式

UPLC/Tof MRM

數(shù)據(jù)采集

UPLC/MSE

碰撞室

XS碰撞室

數(shù)據(jù)分析

UPLC/FastDDA

產(chǎn)品咨詢

SYNAPT XS高分辨率質(zhì)譜儀

上海暄泓科學儀器有限公司

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