粉體行業(yè)在線展覽
粉體行業(yè)在線展覽
WKL-702
直接聯(lián)系
上海儀電物理光學(xué)儀器有限公司.
中國
1-5萬元
儀電物光
WKL-702
4665
高
是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和力度測量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡，數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的珠子攝像機將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形象、準(zhǔn)確和測試范圍寬等特點。可以觀察顆粒形貌，也可得到顆粒分布等分析結(jié)果。
可以觀察顆粒形貌，也可得到顆粒分布等分析結(jié)果。
可以觀察顆粒形貌，也可得到顆粒分布等分析結(jié)果。
WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和力度測量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡，數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的珠子攝像機將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形象、準(zhǔn)確和測試范圍寬等特點。可以觀察顆粒形貌，也可得到顆粒分布等分析結(jié)果。
配置參數(shù)（配置一國產(chǎn)顯微鏡）（配置二進口顯微鏡）
三目生物顯微鏡：平場目鏡：10X、16X
消色差物鏡：4X、10X、40X、100X（油）
總放大倍數(shù)：40X—1600X
攝像機：300萬像素數(shù)字CCD（標(biāo)準(zhǔn)C接口鏡頭）應(yīng)用范圍
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量。形貌觀察和分析。
軟件功能及報告輸出格式
1.可以對圖像進行多項處理：如：影像增強、圖像疊加、局部提取、定向放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)等幾十種功能
2.具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量
3.可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖
主要技術(shù)參數(shù)
WKL-702 | |
測量范圍 | 1~3000微米 |
**光學(xué)放大倍數(shù) | 1600倍 |
**分辨率 | 0.1微米/像素 |
準(zhǔn)確性誤差 | <±3%（國家物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)） |
重復(fù)性偏差 | <±3%（國家物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)） |
數(shù)據(jù)輸出 | 周長分布、面積分布、長涇分布、短徑分布、周長相當(dāng)徑分布、面積相當(dāng)徑分布、feret徑分布、長短徑比、中間（D50）、有效粒徑（D10）、限定粒徑（D60、D30、D97）、個數(shù)長度平均徑、個數(shù)面積平均徑、個數(shù)體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不平均系數(shù)、曲率系數(shù)。 |
