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Thermo Scientific™ Quattro™ 掃描電鏡將成像和分析的全面性能與獨(dú)特的環(huán)境模式（ESEM）相結(jié)合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。

如今，研究型實(shí)驗(yàn)室普遍要求現(xiàn)代的掃描電鏡可以適應(yīng)多種多樣

的樣品分析需求，希望在獲得出色的圖像質(zhì)量的同時(shí)盡可能簡化

樣品制備過程。Quat t r o 的場發(fā)射槍（FEG）確保了優(yōu)異的分辨

率，通過不同的探測器選項(xiàng)，可以調(diào)節(jié)不同襯度信息，包括定向背散

射、STEM 和陰極熒光信息。來自多個(gè)探測器和探測器分區(qū)的圖像可以

同步采集和顯示，使得單次掃描即可獲得各種樣品信息，從而減低束敏

感樣品的束曝光并實(shí)現(xiàn)真正的動態(tài)實(shí)驗(yàn)。

Quattro 的三種真空模式（高真空、低真空和 ESEM™）使得系統(tǒng)極

具靈活性，可以容納任何 SEM 可用的*廣泛的樣品類型，包括放

氣或者是與真空狀態(tài)不相容的樣品。此外，ESEM™可以在現(xiàn)實(shí)世界

的條件下對樣品進(jìn)行原位研究，例如濕/潮濕、熱或反應(yīng)性的環(huán)境。

Quattro 的分析樣品倉可以滿足日益增長的樣品元素信息及晶體結(jié)構(gòu)分

析需求，它同時(shí)支持相對的雙能譜（EDS）探測器、共面能譜（EDS）/電子

背散射衍射（EBSD）和平行束波譜（WDS）探測器。無論什么類型的樣

品，在高真空下或與 Quattro 支持的獨(dú)特實(shí)驗(yàn)條件相結(jié)合，無論樣品導(dǎo)

電、絕緣、潮濕或是在高溫條件下，均可獲得可靠的分析結(jié)果。

由于多用戶設(shè)施要求大量操作人員都能獲得所有相關(guān)數(shù)據(jù)，同時(shí)盡可能

縮短培訓(xùn)時(shí)間，所以易用性是至關(guān)重要的。Quattro 獨(dú)特的硬件由幫助功

能（用戶向?qū)В┲С?，不僅可以指導(dǎo)操作者，還可以直接與顯微鏡進(jìn)行交

互。并且通過“撤消（Undo）”功能，鼓勵新手用戶進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，而專家用戶

可以輕松縮短結(jié)果獲取時(shí)間。

主要優(yōu)勢

在自然狀態(tài)下對材料進(jìn)行原位研究：具有環(huán)境真空模式（ESEM）的獨(dú)特高分辨率場發(fā)射掃描電鏡

**程度縮短樣品制備時(shí)間：低真空和環(huán)境真空技術(shù)可針對不導(dǎo)電和/或含水樣品直接成像和分析，樣品表面無荷電累積

在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品， 同步獲取二次電子像和背散射電子像

安裝原位冷臺、珀?duì)柼渑_和熱臺，可在-165°C 到 1400°C 溫度范圍內(nèi)進(jìn)行原位分析

**的分析性能，樣品倉可同時(shí)安裝三個(gè) EDS 探測器，其中兩個(gè) EDS端口分開 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD

針對不導(dǎo)電樣品的**分析性能：憑借“壓差真空系統(tǒng)”實(shí)現(xiàn)低真空模式下的精確 EDS 和 EBSD 分析

靈活、精確的優(yōu)中心樣品臺，105°傾斜角度范圍，可全方位觀察樣品

軟件直觀、簡便易用，并配置用戶向?qū)Ъ?Undo（撤銷）功能，操作步驟更少，分析更快速

全新創(chuàng)新選項(xiàng)，包括可伸縮 RGB 陰極熒光（CL）探測器、1100°C 高真空熱臺和 AutoScript（基于 Python 的腳本工具 API）