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日本JEOL電子探針顯微分析儀JXA-8230

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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

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產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品詳情

JXA-8230 電子探針顯微分析儀

可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

產(chǎn)品規(guī)格：

檢測(cè)元素范圍	WDS：(Be)^*1 /B～U， EDS：B～U
X射線檢測(cè)范圍	WDS檢測(cè)的波長(zhǎng)范圍: 0.087～9.3nm， EDS EDS檢測(cè)的能量范圍: 20keV
分光譜儀數(shù)量	WDS: 1～5道可選、EDS: 1臺(tái)
**樣品尺寸	100mm × 100mm × 50mm（H）
加速電壓	0～30kV（以0.1 kV為步長(zhǎng)）
束流電流范圍	10^-12 ～ 10^-5 A
束流電流穩(wěn)定度	5%/h， ±0.3%/12h（W）
二次電子分辨率	6nm（W）， 5nm（LaB₆）^*2 （W.D. 11mm， 30kV）
掃描倍率	×40 ～ ×300，000（W. D. 11mm）
掃描圖像分辨率	** 5，120× 3，840
彩色顯示器	EPMA分析用: LCD 1，280 × 1，024 SEM操作、 EDS分析用: LCD 1，280 × 1，024
光學(xué)顯微鏡
分辨率	～1um
焦深	1um
真空系統(tǒng)	機(jī)械泵、分子泵、離子泵 ^*2
真空度	樣品室: 優(yōu)于8.0 x 10^-4Pa，電子槍: 優(yōu)于9.0 x 10^-5Pa

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

· 日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡(jiǎn)單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長(zhǎng)年來對(duì)高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能完全滿足多種需求的強(qiáng)力分析工具之一。

· EPMA快速啟動(dòng)

· 點(diǎn)擊任何一點(diǎn)，就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。

· 用戶菜單（User recipes）

· 能保存或調(diào)用經(jīng)常使用的各種不同類型的樣品分析條件，菜單中包括了全部的電子光學(xué)參數(shù)、EDS和WDS參數(shù)在內(nèi)。

· EDS 的性能

· 數(shù)字化脈沖處理器

· 全譜面分布(WD/ED，樣品臺(tái)和電子束掃描)

· 無風(fēng)扇SDD (選配)

產(chǎn)品咨詢

日本JEOL電子探針顯微分析儀JXA-8230

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