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面議
732
INSTEMS系列為用戶提供了7種原位TEM實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。其中包含三種單外場施加平臺(tái),三種雙外場耦合平臺(tái)和一種三外場耦合平臺(tái)。三種單外場產(chǎn)品為INSTEMS-M(力學(xué)加載)、INSTEMS-E(電學(xué)加載)和INSTEMS-T(熱場加載);三種雙外場耦合產(chǎn)品為INSTEMS-ME(力電耦合)、INSTEMS-TE(熱電耦合)和INSTEMS-MT(力熱耦合);一種三外場耦合產(chǎn)品為INSTEMS-MET(力熱電耦合)。
產(chǎn)品介紹:
INSTEMS-ME可以實(shí)現(xiàn)多種模式的電學(xué)施加和高精度的電學(xué)測量。同時(shí),可以根據(jù)不同的傾轉(zhuǎn)需求選擇不同驅(qū)動(dòng)方式。該產(chǎn)品可實(shí)現(xiàn)拉伸、壓縮、彎曲等多種力學(xué)加載模式。借助于**的力電耦合模式,INSTEMS-ME**保存了TEM樣品桿的雙軸傾轉(zhuǎn)功能,成為市場上**可實(shí)現(xiàn)原子尺度力電耦合研究的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。
突出優(yōu)勢:
1、力場施加條件下高溫加熱能力
超寬加熱范圍( RT-1200 oC )
超高加熱精度( < 0.1 oC )
可程序化加熱
四探針測量
2、優(yōu)異的電學(xué)施加和測量能力
多種通電程序
pA級電學(xué)測量
3、雙軸傾轉(zhuǎn)
α 軸傾轉(zhuǎn)**至±25°
β 軸傾轉(zhuǎn)**至±25°
4、穩(wěn)定的原子尺度成像
極限樣品漂移<50 pm/s
空間分辨率≤0.1 nm
技術(shù)指標(biāo):
**驅(qū)動(dòng)力 | 100 mN |
**驅(qū)動(dòng)位移 | 4 μm |
驅(qū)動(dòng)精度 | < 500 pm |
**電壓 | ± 50 V |
電流測量范圍 | 1 pA-1 A |
空間分辨率 | ≤0.1 nm |
EDS兼容性 | √ |
應(yīng)用領(lǐng)域:
壓電材料
鐵電材料
驅(qū)動(dòng)/傳感
光電伏材料
鋰離子電池
納米器件
柔性電子器件
……
TH-F120
在線折光儀PRB21
BL-GHX-VK
ParticleX TC
觀世
在線濁度計(jì)
CELL PAT
FS500全譜直讀光譜儀
OES1000
蜂鳥10X42