粉體行業(yè)在線展覽
面議
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IMA™高光譜顯微鏡平臺可提供同樣高的光譜和空間分辨率。將這個模塊化系統(tǒng)配置為快速掃描VIS,NIR和/或SWIR光譜,同時繪制光致發(fā)光,電致發(fā)光,熒光,反射率和/或透射率的組合。每個IMA™都配備了高吞吐量的全局成像濾鏡;這使其比依賴掃描光譜的高光譜系統(tǒng)更快地測量百萬像素超立方體。
執(zhí)行復雜的材料分析,例如太陽能電池表征和半導體質(zhì)量控制(例如:鈣鈦礦,GaAs,SiC,CIS,CIGS等)。
在復雜的環(huán)境(包括活細胞和組織)中研究IR標記。以在第二生物窗口中發(fā)射的IR熒光團的光譜異質(zhì)性為例。
檢索暗場圖像并獲得透明和未染色樣品(例如聚合物,晶體或活細胞)的對比度。
快速全局映射(非掃描)
高空間和光譜分辨率
完整的系統(tǒng)(源,顯微鏡,相機,濾鏡,軟件)
無損分析
可定制
可見光范圍從400到1200 nm,SWIR范圍從900 nm到1700 nm
光譜范圍 | VIS-SWIR型號 400-1620 nm | |
---|---|---|
可見光 400-1000 nm | 短波 900-1620 nm | |
光譜分辨率 | <2納米 | <4納米 |
相機 | CCD,EMCCD,sCMOS | ZephIR 1.7 |
激發(fā)波長 (*多3個激光) | 405、447、532、561、660、730、785或808 nm | |
顯微鏡 | 直立或倒立;科學級 | |
空間分辨率 | 亞微米 (受顯微鏡物鏡NA限制) | |
**樣本大小 | 10厘米x 10厘米 | |
X,Y旅行范圍 | 76毫米x 52毫米 | |
Z-階段分辨率 | 100納米 | |
照明 照明選項 | 透射,透射,LED,HG,落射 熒光模塊,暗場模塊 | |
波長**精度 | 0.25nm | |
視頻模式 | 百萬像素相機用于樣品可視化 | |
數(shù)據(jù)處理 | 空間過濾,統(tǒng)計工具,頻譜提取,數(shù)據(jù)歸一化,頻譜校準,疊加,中心位置圖等。 | |
超光譜數(shù)據(jù)格式 | HDF5,F(xiàn)ITS | |
單圖像數(shù)據(jù)格式 | HDF5,CSV,JPG,PNG,TIFF | |
軟件 | PHySpec™控制和分析(包括計算機) | |
尺寸圖 | ?150厘米x 85厘米82厘米 | |
重量 | ?80公斤 |
TH-F120
BL-GHX-VK
線性壓電納米位移臺MF40-25A
ParticleX TC
觀世
在線濁度計
SuperSEM
SJ6000
CELL PAT
FS500全譜直讀光譜儀
OES1000