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全光譜透射比測(cè)量?jī)x的應(yīng)用

全光譜透射率測(cè)量?jī)x（TSM）可以測(cè)量非常廣泛的產(chǎn)品，如：玻璃鏡片、汽車絕緣紙、建筑絕緣紙、玻璃、燈罩、濾波器、晶片、LED擴(kuò)散器等。

全光譜透射比測(cè)量?jī)x的優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)

•超小型，便攜式。

•校準(zhǔn)要求低，維護(hù)成本低。

•定制靈活性

•高分辨率可編程設(shè)計(jì)微控制器

•抗震、防震。

•方便的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。

•清晰易懂的數(shù)據(jù)輸出格式。

•穩(wěn)定的測(cè)量數(shù)據(jù)。

•測(cè)量的光譜參數(shù)

•特定波長(zhǎng)

•可見光平均透過率

•透射率顏色

•CIE

•CCT

•CRI

OHSP-660T光譜透過率測(cè)試儀集光譜、透過率、飽和度、L、A、B等測(cè)量 功能于一體。采用5英寸大屏，各測(cè)量參數(shù)及曲線實(shí)時(shí)顯示，使用方便快捷，可 直接測(cè)試材料和鏡片的透過率測(cè)試。

測(cè)量參數(shù)

測(cè)量界面