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透射電鏡原位電學(xué)性能測試系統(tǒng)
一桿多用:僅僅通過更換芯片,即可實現(xiàn)原位加熱、原位電學(xué)、原位液體和原位氣體研究,極為有效的幫助科研人員提高科研水平,極大的拓展透射電鏡TEM應(yīng)用范圍。
由優(yōu)秀科學(xué)家精心研發(fā)制造,性能優(yōu)越,質(zhì)量可靠。
透射電子顯微鏡是**的提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗 手段。透射電子顯微鏡原位電學(xué)性能測試系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝 掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操控和電學(xué)測量。并可在電學(xué)測量 的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征,極 大地擴(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。 本系統(tǒng)包括包括兩部分,分別是掃描探針控制器(內(nèi)含電流前置放大器)與原位測量樣品桿部分。
透射電鏡原位光電性質(zhì)測試系統(tǒng)
本系統(tǒng)是在透射電鏡標(biāo)準(zhǔn)樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,可在三維空間內(nèi)對電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級精度的操縱與定位。通過電學(xué)探針施加電場,通過光纖施加光場,對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操控并進(jìn)行電學(xué)性質(zhì)、光學(xué)性質(zhì)的測量。并可在物性測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征,極大地擴(kuò)展了透射電鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
透射電鏡原位力學(xué)-電學(xué)性能測試系統(tǒng)
透射電子顯微鏡原位力學(xué)-電學(xué)性能測試系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi) 加裝掃描探針控制單元和納牛頓力傳感器,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操控和拉應(yīng) 力、壓應(yīng)力、電學(xué)測量。并可在力學(xué)、電學(xué)測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶 體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征,極大地擴(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與 應(yīng)用領(lǐng)域。 本系統(tǒng)包括包括兩部分,分別是掃描探針控制器與原位測量樣品桿部分。
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裕隆時代擁有一支涉及眾多領(lǐng)域高素質(zhì)的應(yīng)用支持團(tuán)隊,向客戶提供完整的實驗室解決方案和良好的售后服務(wù)。
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