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日本電子JSM-7500F掃描電鏡

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安柏來(lái)科學(xué)儀器(上海)有限公司

日本

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
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面議

關(guān)注度:

790

產(chǎn)品介紹

強(qiáng)大的通用性與**分辨率的**結(jié)合

JSM-7500F場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的電子光學(xué)系統(tǒng)將場(chǎng)發(fā)射電子槍和半浸沒(méi)式(semi-in-lens)物鏡組合為一體,場(chǎng)發(fā)射電子槍在低加速電壓下也能夠?qū)㈦娮邮劢沟煤芗?xì),與通用型掃描電鏡一樣,對(duì)大樣品也可以進(jìn)行高分辨率的觀察。

GB模式(即柔和光束)能以極低能量的入射電子束觀察樣品的淺表面

通過(guò)給樣品加以偏壓并照射電子束,能夠利用分辨率高于一般模式的GB模式,與能獲得高分辨率的電子光學(xué)系統(tǒng)配合使用,JSM-7500F可用能量為數(shù)百電子伏的入射電子束對(duì)樣品的淺表面進(jìn)行高分辨率觀察,這是迄今為止所未能實(shí)現(xiàn)的。

新型r-過(guò)濾器對(duì)二次電子和背散射電子的選擇性檢測(cè)

新型 r-過(guò)濾器有標(biāo)準(zhǔn)SB(二次電子檢測(cè))模式、標(biāo)準(zhǔn)BE模式(背散射電子檢測(cè))、Sb模式(二次電子優(yōu)先)和Bs模式(背散射電子優(yōu)先)四種模式。Sb模式能檢測(cè)以任意比例和背散射電子混合的二次電子,Bs模式能檢測(cè)以任意比例和二次電子混合的背散射電子,這些功能在簡(jiǎn)明易懂的菜單上都可一鍵操作完成。

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