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XRD檢測--納米二氧化鈦晶粒尺寸

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束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司

上海

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產(chǎn)品介紹

納米材料的性能往往和其晶粒大小有關(guān)，而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一。

晶粒尺寸D_hkl(可理解為一個(gè)完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計(jì)算：

Dhkl：晶粒尺寸，垂直于晶面hkl方向

β:hkl晶面的半高寬（或展寬）

θ：hkl晶面的bragg角度

λ：入射X光的波長，一般Cu靶為1.54埃

K：常數(shù)（晶粒近似為球形，K=0.89；其他K=1）

實(shí)例納米TiO2晶粒尺寸14nm

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XRD檢測--納米二氧化鈦晶粒尺寸

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