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多功能掃描X射線光電子能譜儀 XPS
面議
萬德思諾
多功能掃描X射線光電子能譜儀 XPS
204
產(chǎn)品圖片:
產(chǎn)品型號(hào):
XPS
產(chǎn)品介紹:
XPS 作為一種重要的表面分析方法,廣泛應(yīng)用于固體材料表面的元素組分和化學(xué)態(tài)的研究,例如電池材料、催化劑、集成電路、半導(dǎo)體、金屬、聚合物、陶瓷和玻璃等,可滿足從研發(fā)到失效分析的廣泛分析需求。
VersaProbe4 采用了全新設(shè)計(jì)的高靈敏度分析器,靈敏度是上一代的2倍,具有更低的檢測(cè)限,能夠?qū)崿F(xiàn)從微區(qū) (<10 um) 到大面積(>1 mm) 的高靈敏度化學(xué)態(tài)分析。
獨(dú)特的微聚焦掃描X射線和SXI影像,通過類似SEM的SXI影像可以作為樣品導(dǎo)航,實(shí)現(xiàn)100%精準(zhǔn)地定義微區(qū)分析位置。
*SXI (Scanning X-ray Image): 掃描X射線激發(fā)的二次電子影像
產(chǎn)品特性:
1. 全新設(shè)計(jì)的高靈敏度和低噪音能量分析器
2. 使用微區(qū)XPS分析技術(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確的深度剖析
3. 無需參數(shù)調(diào)整即可滿足任何絕緣樣品微區(qū)分析的荷電中和需求
4. 遠(yuǎn)程訪問實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的遠(yuǎn)程控制
5. 自動(dòng)化和遠(yuǎn)程控制提供靈活的工作環(huán)境
6. 用于AES分析的掃描電子槍配件
7. 專用REELS電子槍
8. Ar團(tuán)簇離子槍(Ar-GCIB)
9. UPS(紫外光電子能譜)LEIPS(低能量反光電子能譜)配件
10. 冷熱變溫樣品臺(tái)
11. 4觸點(diǎn)冷熱變溫樣品臺(tái)
12. 雙陽極X射線源
13. 可拓展的樣品進(jìn)樣室
14. 樣品傳送管
15. 樣品預(yù)處理室
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù):
溶液成長(zhǎng)法單晶生長(zhǎng)設(shè)備(TSSG法)
中型高速研磨設(shè)備 STC-610
快速高溫退火設(shè)備RTA RSA-06
全自動(dòng)晶片減薄機(jī)SGM-9100
桌上型精密切割機(jī)MPC-200e
MIST-CVD氧化物薄膜沉積設(shè)備 M150A
C2W低溫?zé)釅烘I合設(shè)備 SAFP
高還原性低溫?zé)釅簩?duì)準(zhǔn)鍵合設(shè)備 MAFP
高還原性低溫?zé)釅烘I合設(shè)備 FATB
碳膜濺射設(shè)備 CS-200
碳膜去除設(shè)備 NE-550EX
激活退火設(shè)備 Ailesic-2000
Revontium
N80
VANTA
ScopeX PILOT
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M