粉體行業(yè)在線展覽
面議
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利用X-ray及相角技術(shù)原理顯示出原物體結(jié)構(gòu),優(yōu)點(diǎn)在於對樣品是非破壞式,不用針對樣品做前處理,並可得到物體的3D結(jié)構(gòu)圖.適合用於分析材料表面或內(nèi)部狀況,或各種角度之剖面圖.
Revontium
N80
VANTA
ScopeX PILOT
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M