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CMOS平板探測(cè)器

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先鋒科技（香港）股份有限公司

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產(chǎn)品介紹

CMOS X射線相機(jī)由單個(gè)半導(dǎo)體硅片制成，可直接探測(cè)可見光或配合閃爍晶體用于探測(cè)X光和其它高能輻射。針對(duì)不同應(yīng)用，可配備不同厚度Gadox或針狀CsI閃爍體，是醫(yī)學(xué)診斷，工業(yè)檢測(cè)，科學(xué)成像的理想解決方案，標(biāo)準(zhǔn)能量測(cè)試范圍為不超過220KV，根據(jù)客戶要求，能量可到400KV，采用Camera Link接口，全分辨率下**可到65幀/秒

有效面積(mm)	114.9x64.6
分辨率	1536x864
像素尺寸（μm）	74.8/149.6/299.2；依賴于不同的binning
MTF@6lp/mm	大于20%；(150μm HR CsI without binning）
DQE	~0.7 at 0.5lp/mm (28 kV， W / Al)
Binning	1 x 1， 1 x 2， 2 x 2， 1 x 4， 2 x 4， 4 x 4
工作模式	提供低噪聲及高動(dòng)態(tài)范圍兩種
動(dòng)態(tài)范圍	6400-2400；依賴于不同的工作模式及binning
幀速	32-191；依賴于不同的binning及數(shù)據(jù)接口
ADC分辨率	14位
計(jì)算機(jī)接口	Camera Link或千兆以太網(wǎng)
外形尺寸(mm)	241 x 150 x 42
重量(kg)	1.9

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