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Amptek FAST SDD C系列窗口探測(cè)器

直接聯(lián)系

AMPTEK INC.

美國

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)

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821

產(chǎn)品介紹

Amptek獲得**的“ C系列” X射線窗利用氮化硅（Si3N4）和鋁涂層來將我們的硅漂移檢測(cè)器（SDD）的低能量響應(yīng)擴(kuò)展到硼（Be）。

應(yīng)用領(lǐng)域

C1 Windows：實(shí)驗(yàn)室，臺(tái)式和手持式儀器。

C2 Windows：掃描電子顯微鏡（SEM）中的真空應(yīng)用程序和EDS（EDX）。C2窗在*低能量下具有更高的效率

C2窗FASTSDD測(cè)試Be和C譜圖

C2窗與聚合物窗效率對(duì)比

FASTSDD典型分辨率

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Amptek FAST SDD C系列窗口探測(cè)器

AMPTEK INC.

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