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光譜反射薄膜測(cè)厚儀SR100

直接聯(lián)系

北京燕京電子有限公司

美國(guó)

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
參考報(bào)價(jià):

面議

關(guān)注度:

811

產(chǎn)品介紹

特點(diǎn)

·易于安裝

·基于視窗結(jié)構(gòu)的軟件,很容易操作

·先進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì),以確保能發(fā)揮出好的系統(tǒng)性能

·基于陣列設(shè)計(jì)的探測(cè)器系統(tǒng),以確??焖贉y(cè)量

·獨(dú)特的光源設(shè)計(jì),有著較好的光源強(qiáng)度穩(wěn)定

·有四種方法來(lái)調(diào)整光的強(qiáng)度:

§ 通過(guò)電源的調(diào)節(jié)旋鈕來(lái)調(diào)節(jié)電源輸出的大小

§ 在光輸出濾光槽內(nèi)調(diào)整濾光片來(lái)調(diào)整

§ 調(diào)整光束大小

§ 通過(guò)TFProbe軟件,在探測(cè)器里調(diào)整積分時(shí)間

·測(cè)量5層的薄膜厚度和折射率

·在毫秒的時(shí)間內(nèi),可以獲得反射率、傳輸和吸收光譜等一些參數(shù)

·能夠用于實(shí)時(shí)或在線的厚度、折射率測(cè)量

·系統(tǒng)配備大量的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)庫(kù)

·對(duì)于每個(gè)被測(cè)薄膜樣品,用戶可以利用先進(jìn)的軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫(kù)、也可以進(jìn)行色散或者復(fù)合模型(EMA測(cè)量分析;

·可升級(jí)至MSP(顯微分光光度計(jì))系統(tǒng),SRM成像系統(tǒng),多通道分析系統(tǒng),大點(diǎn)測(cè)量。

·通過(guò)模式和特性結(jié)構(gòu)直接測(cè)量。

·提供的各種配件可用于特殊結(jié)構(gòu)的測(cè)量,通過(guò)曲線表面進(jìn)行縱長(zhǎng)測(cè)量。

·2D3D圖形輸出和友好的用戶數(shù)據(jù)管理界面。

系統(tǒng)配置:

· 型號(hào):SR100R

·測(cè)器: 2048像素的CCD線陣列

· 光源:高穩(wěn)定性長(zhǎng)壽命鹵素?zé)?/span>

·光傳送方式:光纖

·臺(tái)架平臺(tái)特殊處理鋁合金,能夠很容易的調(diào)節(jié)樣品重量,200mmx200mm大小

· 軟件:TFProbe 2.2版本的軟件

· 通訊接口:USB的通訊接口與計(jì)算機(jī)相連

· 測(cè)量類型:薄膜厚度,反射光譜,折射率

· 電腦硬件要求P3以上、50 MB的以上空間

·電源:110–240V AC/50-60Hz,1.5A

· 保修:一年的整機(jī)及零備件保修

規(guī)格:

· 波長(zhǎng)范圍:250nm到1100 nm

· 光斑尺寸:500μm至5mm

· 樣品尺寸:200mmx200mm或直徑200mm

· 基板尺寸:zui多可至50毫米厚

· 測(cè)量厚度范圍:2nm50μm

· 測(cè)量時(shí)間:zui2毫秒

·優(yōu)于0.5%(通過(guò)使用相同的光學(xué)常數(shù),讓橢偏儀的結(jié)果與熱氧化物樣品相比較

· 重復(fù)性誤差小于1Ǻ

應(yīng)用:

· 半導(dǎo)體制造(PR,Oxide, Nitride..)

· 液晶顯示(ITO,PRCell gap... ..

· 醫(yī)學(xué),生物薄膜及材料領(lǐng)域等

· 油墨,礦物學(xué),顏料,調(diào)色劑等

· 醫(yī)藥,中間設(shè)備

· 光學(xué)涂層,TiO2, SiO2, Ta2O5... ..

· 半導(dǎo)體化合物

· MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜

· 非晶體,納米材料和結(jié)晶硅

產(chǎn)品咨詢

光譜反射薄膜測(cè)厚儀SR100

北京燕京電子有限公司

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