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儀器介紹：

近代科學(xué)技術(shù)的許多學(xué)科對各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛，因此，測得薄膜厚度和光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實際工作中，常常使用橢圓偏振法來進行測量。這種方法測量靈敏度和精度較高，并且是非破壞性測量。他能同時測定薄膜的厚度和折射率。

本產(chǎn)品為手動方式調(diào)節(jié)儀器，測量薄膜的厚度和光學(xué)參數(shù)。清晰的展示了橢圓偏振測厚儀的各個部件的結(jié)構(gòu)功能，調(diào)節(jié)方法，使用戶可詳細的了解橢圓儀的原理結(jié)構(gòu)，并培養(yǎng)其動手操作能力。

技術(shù)指標：