粉體行業(yè)在線展覽
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半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器
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賽默飛世爾科技（中國）有限公司集團(tuán)展位
美國
面議
664
儀器簡介：
MicronX型熒光測厚儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料和電子器件領(lǐng)域的檢測設(shè)備。
檢測區(qū)域?yàn)?0m~500um. 通過CCD 可放大圖像達(dá)300倍。通過高精密度樣品臺(tái)可提供元素面分布圖。
可對(duì)多達(dá)7層的涂層或鍍層進(jìn)行逐層厚度測量。
