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博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀L系列

直接聯(lián)系

安柏來科學儀器（上海）有限公司

美國

產品規(guī)格型號

參考報價：

面議

關注度：

743

產品介紹

博曼L系列產品概述：

L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結合。對于大的鍍件，L系列是必備品。大樣品臺和XY行程可實現大鍍件的多點測量。封閉式樣品倉可容納12"x22"x24"（LxWxH）的樣品。XY平臺的行程為13"x10"。

標準配置包括一個4位置多準直器組件，以及一個可在凹陷區(qū)域進行測量的變焦相機。與其他型號一樣，準直器尺寸和焦距可根據不同的客戶應用進行定制。包括可編程的XY平臺，為了滿足更大樣品測測量，XY平臺可以移除。探測器采用硅PIN半導體探測器，可升級為高性能SDD探測器。

博曼L系列可滿足以下類型用戶的需求：

- 樣品的長寬高分別超過12"但小于24"

- 需容納多個樣品進行自動化多點測量

- 可擴展到更大尺寸的樣品，用于未來的項目

- 符合IPC-4552A

博曼L系列產品參數：

類別

參數

元素測量范圍：

X射線管：

探測器：

分析層數及元素數：

濾波器/準直器：

焦距：

數字脈沖器：

計算機：

相機：

電源：

重量：

可編程XY平臺：

樣品倉尺寸：

外形尺寸：

13號鋁元素到92號鈾元素

50 W（50kV和1mA）微聚焦射線管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器

5層，每層可分析10種元素，成分分析*多可分析25種元素

4位置一次過濾器/4種規(guī)格準直器

可變焦

4096 多通道數字處理器，自動死時間和逃逸峰校正

英特爾，酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz)， 8GB DDR3 內存，微軟 Windows 10 專業(yè)版， 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz

110kg

平臺尺寸：10"x 10"| 行程：10"x 10"

高度：280mm（11"），寬度：550mm（22"），深度：600mm（24"）

高度：750mm（30"），寬度：700mm（28"），深度：750mm（30"）

關于美國博曼：

美國博曼（Bowman）是高精度臺式鍍層測厚儀供應商，擁有近40年的行業(yè)經驗。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和先進的軟件系統(tǒng)，可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時測量包含基材在內的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時，博曼XRF系統(tǒng)也可以測量高熵合金（HEAs）。

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產品咨詢

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀L系列

安柏來科學儀器（上海）有限公司

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