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BA-100 M系列
面議
美國(guó)博曼BOWMAN
BA-100 M系列
448
0.001
精度高
美國(guó)博曼(Bowman)BA-100系列 X射線熒光毛細(xì)管鍍層測(cè)厚儀 M系列
美國(guó)博曼(Bowman) BA-100 Optics 臺(tái)式X射線熒光(XRF)鍍層測(cè)厚儀;為您提供高精度、快速簡(jiǎn)便的鍍層厚度測(cè)量、元素分析,以及電鍍液分析。
儀器型號(hào):BA-100-M-uSPOT
儀器采用*前沿的uSPOT多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù),實(shí)現(xiàn)極小光斑的測(cè)量,測(cè)量光斑為15um
適用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等行業(yè)的鍍層厚度測(cè)量、材料分析、溶液分析;尤其適用于化學(xué)鎳金(ENIG)、化學(xué)鎳鈀金(ENEPIG)、化學(xué)磷P%的分析
可測(cè)元素范圍廣泛,Al13—U92
成份分析*多可達(dá)25種元素
*多可測(cè)4層鍍層+基材層的鍍層厚度
無(wú)
BA-100 M系列
靜態(tài)
BA-100 P
動(dòng)態(tài)
BA-100 G
BA-100 E系列
BA-100 G系列
BA-100 P系列
BA-100
BA-100 M
BA-100 -1