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儀器簡介：

Renishaw的新型XL-80激光干涉儀能夠滿足和超越實際工業(yè)規(guī)范水平，提供4 m/s**的測量速度和50 kHz記錄速率。即使在**的數據記錄速率下，系統(tǒng)準確性可達到±0.5ppm（線性模式）和1納米的分辨率，這些改進意味著工程師仍能使用可溯源性激光干涉的獨特優(yōu)勢，幫助解決現(xiàn)代化機器設計問題。

系統(tǒng)精度比原有的對應產品ML10激光系統(tǒng)有所提升，在整個日常溫度、氣壓和濕度不同工作環(huán)境下，均可達到±0.5 ppm的精度。環(huán)境讀數使用XC-80智能傳感系統(tǒng)進行讀取，每7秒更新一次激光讀數補償值。還有一點很重要，與Renishaw的ML10系統(tǒng)一樣，所有測量值均采用穩(wěn)定化的氦氖激光源的波長為單位，保證能夠溯源至國際公認的長度標準。

此新系統(tǒng)可以與現(xiàn)有的ML10系統(tǒng)光學鏡組完全兼容，使目前全球成千上萬的ML10用戶能夠升級到新系統(tǒng)，并同時保留其在光學鏡組、程序和人員培訓上的原有投資。

我們還提供已更新的Renishaw軟件版本（LaserXL™及QuickViewXL™），能夠以用戶熟悉的、易于使用的格式提供數據。Laser XL™能夠執(zhí)行循序漸進式的測量，以方便對大多數機床按標準進行檢驗，QuickViewXL™軟件能夠在屏幕上實時地顯示激光讀數。

您只要看一眼Renishaw的新型XL-80激光裝置和XC-80補償器，就會注意到它們比原有的ML10和EC10小了許多?，F(xiàn)在，二者總重僅3公斤多一點（包括連接電纜、電源和傳感器），比原來減輕了70%。當然，隨著激光頭和補償器尺寸減小，其他系統(tǒng)組件，例如三腳架和云臺也相應地減小以便相配，因此整個系統(tǒng)（除了三腳架）的裝運箱減小了許多。現(xiàn)在，*小的“腳輪箱”只有原來箱子的一半大一點點，卻可以攜帶整個線性和角度測量系統(tǒng)，并有放置Renishaw QC10球桿儀組件的位置。這個高度便攜的“檢查和修正”系統(tǒng)總重不到15公斤，同類產品無以匹敵。

為了與系統(tǒng)的其他組件的便攜性相匹配，我們設計了新型三腳架和裝運箱，僅重6.2公斤。

激光頭和云臺體積很小，能夠方便地固定在標準磁性座上，可以在不方便使用三腳架固定的應用條件下使用。XL-80激光測量系統(tǒng)的光束高度和光學鏡組尺寸與ML10系統(tǒng)一樣，因此也可以直接放在花崗巖工作臺（不使用三腳架云臺）上，進行坐標測量機的校準。

Renishaw已將激光的預熱時間縮短至大約僅6分鐘。預熱速度較同類系統(tǒng)快，因此用戶等待時間減少了，用于測量工作的幾率增加了，這對于機器校準服務商和那些需要在一個地點執(zhí)行多項測量的用戶而言非常重要。

現(xiàn)在，信號增益的開啟和關閉是一項標準功能，使其具有80米線性測量距離的能力。若短距離應用時，則可以提高信號強度。配上多信號連接器以提供模擬信號輸出以及激光直接到PC USB連接（不需要單獨的接口），現(xiàn)在，XL-80激光頭的配置包括了過去ML10機型的激光頭上原為任選的所有功能。

XL-80系統(tǒng)具有長達3年標準的全面保修，并可以以優(yōu)惠的價格選購延長保修時間為5年。對于使用ML10的老用戶和使用其他廠商制造的同類系統(tǒng)的新客戶，我們均提供一些特別優(yōu)惠政策。因此，您更有理由去聯(lián)絡Renishaw公司在全球各地的分公司和地區(qū)經銷代理，讓我們?yōu)槟榻B選購XL-80作為升級或作為新系統(tǒng)所帶來的好處。

技術參數：

XL80:

系統(tǒng)精度: ±0.5ppm (0~40 ℃整個工作環(huán)境范圍)

激光穩(wěn)頻精度:±0.05ppm

分辨率:0.001 um

**測量速度:4.0m/sec

**采樣頻率:50KHz

測量范圍: 0 - 80 metres

預熱時間更短:~6分鐘

XL30:

系統(tǒng)精度: ±1ppm (0~40 ℃整個工作環(huán)境范圍)

激光穩(wěn)頻精度:±0.1ppm

分辨率:0.01 um

**測量速度:4.0m/sec

**采樣頻率:5KHz

測量范圍: 0 - 30 metres

預熱時間更短:~6分鐘

主要特點：

傳承于暢銷全球的ML10 Gold激光干涉儀，誕生于英國計量產品世家的又一驚世杰作，XL80激光干涉儀為業(yè)界提供了性能更為先進，應用更為廣泛，更加輕巧便攜的計量檢測利器:

檢測速度從每小時幾個微米到每分鐘240米(仍以分辨率0.001 um記數);

采樣頻率從靜態(tài)到每秒50000個數據點(仍以分辨率0.001 um記數);

測量范圍從數納米的微觀尺寸到80米的大尺寸測量;