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961
NPFLEX 三維表面測(cè)量系統(tǒng)
針對(duì)大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測(cè)試分析系統(tǒng)
靈活測(cè)量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測(cè)量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
快速獲取測(cè)量數(shù)據(jù),測(cè)試過(guò)程迅速高效
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測(cè)量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來(lái)****的檢測(cè)能力,實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)量時(shí)間,提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力?;诎坠飧缮娴脑?,這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x(CMM)和工業(yè)級(jí)探針式輪廓儀的測(cè)量技術(shù)。測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)包括獲得高分辨的三維圖像,進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集,幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),NPFLEXTM是**個(gè)可以靈活地測(cè)量大尺寸樣品的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。
其靈活性表現(xiàn)在可用于測(cè)量表征更大的面型和更難測(cè)的角度樣品
高效的三維表面信息測(cè)量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
測(cè)量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測(cè)試的迅速和高效
為客戶量身訂做*合適的儀器配置NPFLEX在基本配置的基礎(chǔ)上,還有很多備選的配件和配置方案,滿足不同客戶的測(cè)量需求:• 可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)的樣品部位,測(cè)量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣,重復(fù)性好。• 獲得研發(fā)大獎(jiǎng)的透過(guò)透明介質(zhì)測(cè)量模塊(Through Transmissive Media,TTM)模塊,,結(jié)合環(huán)境測(cè)試腔,可以穿透5cm厚的色散材料,可對(duì)樣品進(jìn)行加熱或者冷卻,進(jìn)行原位測(cè)量。•可選的折疊鏡頭能夠測(cè)量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。納米級(jí)分辨率的三維表面信息測(cè)量 大家對(duì)很多樣品的表面性質(zhì)感興趣,但是要獲得這些品性質(zhì),需要檢測(cè)大量的樣品表面定量信息。許多應(yīng)用在航空航 天,汽車,醫(yī)療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品,往往只能借助于二維接觸式檢測(cè)工具進(jìn)行表征,獲得的只是一條線測(cè)量數(shù)據(jù)。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓,但是無(wú)法深入研究樣品表面更精確的紋理細(xì)節(jié)信息。NPFLEX測(cè)試系統(tǒng)采用白光干涉原理,在每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)可以實(shí)現(xiàn)表面形貌的三維信息收集,且具有亞納米級(jí)的垂直分辨率。所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限,高效的三維表面信息測(cè)量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果,更多的測(cè)量數(shù)據(jù)來(lái)幫助分析樣品性質(zhì)。 快速獲取數(shù)據(jù),保證測(cè)試迅速高效 NPFLEX三維測(cè)量系統(tǒng),能夠靈活高效的獲取大量測(cè)試數(shù)據(jù)。大大縮短了樣品制備時(shí)間和測(cè)量方案設(shè)置時(shí)間,操作者可以快速更換樣品,而且無(wú)需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下,對(duì)樣品的不同表面進(jìn)行測(cè)量。僅需要不到15秒的時(shí)間,就可以出色地完成一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的數(shù)據(jù)采集和分析工作。自動(dòng)對(duì)焦,光強(qiáng)調(diào)節(jié)以及其他配套軟件功能,大大節(jié)約了測(cè)試分析時(shí)間,而且可以根據(jù)操作者的實(shí)驗(yàn)需求,量身定做**化的實(shí)驗(yàn)方案,而不影響數(shù)據(jù)的精度和質(zhì)量。利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準(zhǔn)確地獲得大型零部件的高精度測(cè)量結(jié)果,提供一站式的測(cè)量解決方案。 布魯克納米表面儀器部開(kāi)通優(yōu)酷視頻專輯 Bruker Nano Surfaces YouKu Channel— 歡迎訂閱優(yōu)酷上Bruker Nano Surfaces的相關(guān)視頻,觀看**的AFM產(chǎn)品和相關(guān)技術(shù)進(jìn)展,以及歷屆網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)和培訓(xùn)資料,精彩內(nèi)容持續(xù)更新中! 布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces 北京辦公室北京市海淀區(qū)中關(guān)村南大街 11號(hào)光大國(guó)信大廈6層 6218室電話:010-68474806 -630 傳真:010-88417855上海辦公室上海市徐匯區(qū)漕河涇開(kāi)發(fā)區(qū)桂平路 418號(hào)新園科技廣場(chǎng) 19樓E-mail:Sales.asia@br*************產(chǎn)品咨詢熱線:400-89****** \SOM
電腦組合體系VG42
重量選別稱
UNI800C多物料配料控制儀
配料計(jì)量系統(tǒng)
在線HPXRF檢測(cè)設(shè)備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
片式電容四參數(shù)測(cè)試機(jī)
0~10%糖度
三路浮子流量計(jì) MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測(cè)儀
GJT-2F系列金屬探測(cè)儀
QY型高純石英砂檢測(cè)儀