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Rtec-臺階儀

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艾泰克儀器科技（南京）有限公司

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產(chǎn)品介紹

特點(diǎn)

集合了共焦光學(xué)形貌儀，WLI白光干涉形貌儀，原子力顯微鏡，接觸和非接觸式雙模式表面形貌檢測。

技術(shù)參數(shù)

項(xiàng) 目簡述	參數(shù)說明
1. 共焦	l可快速垂直掃描的旋轉(zhuǎn)共焦技術(shù) l使用高數(shù)值孔徑 (0.95) 以及高倍數(shù)的 (150倍) 3D全視野3D鏡頭，用以表征坡度分析 (超大斜率<干涉測量>: 72° vs 44°) l具有光學(xué)形貌上超高的橫向分辨率，附有5百萬自動分辨率的CCD相機(jī)，空間下樣可調(diào)至0.05um，是表面特征以及形貌的測量的理想配置 l在測量表面粗糙度/表面反射率上沒有限制 l應(yīng)用于透明層/薄膜 l兼容亮視野&暗視野; 光學(xué)DIC l長距離遠(yuǎn)攝鏡頭是用以測量高縱橫比以及坡度特性的理想之選 l高穩(wěn)定性
2.干涉儀（WLI）	lZ向高分辨率 l兼具相移（PSI）以及垂直掃描（VSI）模式 lZ向分辨率可獨(dú)立放大 l四色CCD 相機(jī)，用戶可自選的LED光源 (白光、綠光、藍(lán)光和紅光) l高達(dá)五百萬像素的可自動分辨的CCD 相機(jī) l快速處理器 l自動對焦
3.原子力顯微鏡	l探針掃描可用于大型模板 lX、Y、Z三向可達(dá)原子級分辨率 l大壓電探針掃描XY: 達(dá)到 110x110um
4.變焦	l粗糙表面分析 l快速分析 l特點(diǎn)：一臺設(shè)備上集成非接觸式白光干涉形貌儀高精度原子力顯微鏡

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