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C11295多點納米膜厚測量儀

直接聯(lián)系

濱松光子學(xué)商貿(mào)（中國）有限公司

日本

產(chǎn)品規(guī)格型號

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面議

關(guān)注度：

727

產(chǎn)品介紹

C11295 多點納米膜厚測量儀

特性

參數(shù)

*1：-XX，表示測點數(shù)

*2：以 SiO2折射率1.5來轉(zhuǎn)換

*3：測量400 nm 厚SiO2 薄膜的標(biāo)準(zhǔn)偏差

*4：取決于所使用的光學(xué)系統(tǒng)或物鏡的放大率

*5：可保證的測量范圍列在VLSI標(biāo)準(zhǔn)測量保證書中

*6：鹵素?zé)粜蜑镃11295-XXH

*7：連續(xù)數(shù)據(jù)采集時間不包括分析時間

產(chǎn)品咨詢

C11295多點納米膜厚測量儀

濱松光子學(xué)商貿(mào)（中國）有限公司

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