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C11011-01W微米膜厚測量儀

直接聯(lián)系

濱松光子學(xué)商貿(mào)（中國）有限公司

日本

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關(guān)注度：

501

產(chǎn)品介紹

C11011-01W 微米膜厚測量儀

特性

參數(shù)

*1：SiO2薄膜測量特性

*2：Si薄膜測量特性

*3：測量6 μm厚硅薄膜時的標準偏差

*4：可選配1000mm工作距離的模型C11011-01WL

*5：連續(xù)數(shù)據(jù)采集時間不包括分析時間

產(chǎn)品咨詢

C11011-01W微米膜厚測量儀

濱松光子學(xué)商貿(mào)（中國）有限公司

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