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>K-T G200/I-Nano/Insitu微納米力學測試

K-T G200/I-Nano/Insitu微納米力學測試

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是德科技(中國)有限公司

美國

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產品介紹

美國K-T公司是全球微納米力學測試設備技術的開創(chuàng)者,全球**臺納米力學測試系統(tǒng)于上世紀80年代初在公司前身誕生,多種測量方法和物理模型來自該公司。經過30多年不斷努力和改進,該公司微納米力學測試不僅實現(xiàn)了靜態(tài)到動態(tài)的測試,同時實現(xiàn)了與光學、電學等設備連用的原位材料力學、微結構學甚至成份學的多手段原位測試功能。當前國標已經引入該公司**的CSM連續(xù)剛度技術,在該領域具有很高的權威性。K-T在連續(xù)剛度(CSM)、高分辨、掃描成像、快速測試方面擁有獨特技術。K-T是該領域**跨國公司,中國設有地區(qū)總部,擁有*專業(yè)的技術支持和售后服務人員。

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K-T G200/I-Nano/Insitu微納米力學測試

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