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探針輪廓儀

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北京維泰凱信新技術(shù)有限公司

美國

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關(guān)注度：

714

產(chǎn)品介紹

儀器簡介：三維輪廓儀NanoMap-LS

三維輪廓儀NanoMap-LS 擁有超大的掃描范圍，僅需按下一個按鈕即可產(chǎn)生高分辨率的三維和二維圖像 。

三維輪廓儀NanoMap-LS 特點

常規(guī)的接觸式輪廓儀和掃描探針顯微鏡技術(shù)的**結(jié)合

自動樣品臺掃描，保證樣品精確而快速的掃描測試。使用高級別光學(xué)參考平臺能使長程掃描范圍到 100mm。

在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機可對樣品直接觀察 。

軟件設(shè)置恒定微力接觸

簡單的2步關(guān)鍵操作，友好的軟件操作界面

三維輪廓儀的應(yīng)用

三維表面形貌/輪廓儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺階高度，二維粗糙度（Ra，Rq，Rmax...），三維粗糙度（Sa，Sq，Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。

三維表面輪廓測量和粗糙度測量，即適用于精密拋光的光學(xué)表面也可適用于質(zhì)地粗糙的機加工零件。

薄膜和厚膜的臺階高度測量

劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積定量測量

空間分析和表面紋理表征

平面度和曲率測量

二維薄膜應(yīng)力測量

微電子表面分析和MEMS表征

表面質(zhì)量和缺陷檢測

電腦 Pentium IV， USB2.0聯(lián)接

操作系統(tǒng) Win XP

系統(tǒng)動力需求 90-240V，350W

產(chǎn)品咨詢

探針輪廓儀

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探針輪廓儀 - 714
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