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原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)
面議
安徽澤攸
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)
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原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)(非定量力+電+光+加熱)是原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境(包括力,熱,光,電等),從而對(duì)材料或者器件等樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵(lì)下的原位表征。
光纖指標(biāo)
●多模光纖外徑250um,保證電鏡系統(tǒng)真空指標(biāo);
●可選光纖探針、平頭光纖;
●配備快速SMA接頭、FC接頭。
加熱指標(biāo)
●溫度控制范圍:室溫至1000℃;
●溫度準(zhǔn)確度:優(yōu)于5%;
●溫度穩(wěn)定性:優(yōu)于±0.1℃。
產(chǎn)品特色
●可通過簡單更換MEMS芯片種類以及不同STM探針為樣品施加四種激勵(lì),實(shí)現(xiàn)多種復(fù)雜的測試功能,完成以往無法實(shí)現(xiàn)的研究;
●高溫拉伸/壓縮 (加熱芯片+電學(xué)STM探針) ;
●熱電子發(fā)射/場發(fā)射 (加熱芯片+電學(xué)STM探針) ;
●三端器件測量 (電學(xué)芯片+電學(xué)STM探針) ;
●電致發(fā)光現(xiàn)象研究 (電學(xué)芯片+光學(xué)STM探針) ;
●光電現(xiàn)象研究 (電學(xué)芯片+光學(xué)STM探針) ;
●穩(wěn)定性高:輕松獲得大幅度運(yùn)動(dòng)中的高分辨像,適用于更廣泛的應(yīng)用場景和樣品體系;
●很長的壽命:**技術(shù)(**種類:實(shí)用新型(具備高分辨多維操縱和電學(xué)測量的電子顯微鏡原位樣品桿) **號(hào):202020944865 .4)的“爪-球”結(jié)構(gòu)探針桿因其獨(dú)特的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),是公認(rèn)皮實(shí)耐用的探針桿;
●很低維護(hù)成本:設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材。”爪-球“微動(dòng)結(jié)構(gòu)已實(shí)現(xiàn)模塊化量產(chǎn),維護(hù)成本低;
●很大的用戶群:在國內(nèi)擁有近200個(gè)高質(zhì)量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會(huì)產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動(dòng),搭建學(xué)術(shù)平臺(tái)供用戶交流;
●成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò):在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地?fù)碛腥舾杉夹g(shù)支持網(wǎng)點(diǎn),24小時(shí)提供技術(shù)支持。
應(yīng)用領(lǐng)域
無掩膜光刻機(jī)
電子束光刻機(jī)
手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B
半自動(dòng)臺(tái)階儀 JS100B
全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS3000B
SEM電池臺(tái)
ZEM Ultra場發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡
透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)
SEM納米探針臺(tái).
SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)
SEM熱電芯片臺(tái)
壓電物鏡NF100LA
電腦組合體系VG42
重量選別稱
UNI800C多物料配料控制儀
配料計(jì)量系統(tǒng)
在線HPXRF檢測設(shè)備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng)
片式電容四參數(shù)測試機(jī)
0~10%糖度
三路浮子流量計(jì) MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
GJT-2F系列金屬探測儀
YB-JZX小量程自動(dòng)檢重秤