粉體行業(yè)在線展覽
DPLS4000
80-90萬元
核芯電子
DPLS4000
155
0.0001
1.對空位型缺陷(如單空位、空位團、納米孔洞等)的檢測靈敏度極高(可達ppm級),遠超XRD和常規(guī)電鏡;
2.無需復雜樣品制備(如切片、鍍膜、高真空環(huán)境),可分析塊體、粉末、薄膜、多孔材料等多種形態(tài);且對樣品是無損檢測;
3.可以實現(xiàn)多環(huán)境加持的原位測量
DPLS4000是一款基于高速數(shù)字采集卡和快γ探測器的正電子湮沒壽命測量一體機設備。**在商業(yè)化正電子湮沒壽命譜儀中實現(xiàn)了免調試、自穩(wěn)定的功能。
通過測量正電子在材料中的湮沒壽命的長短,DPLS4000可以表征材料中的微觀結構缺陷。正電子進入材料后根據(jù)所處微電子環(huán)境的不同有著不同的壽命,材料中的缺陷孔洞越大,電子密度越小,相應的正電子壽命也就越長。
1. 時間分辨率≤190ps(使用Na-22測量正電子湮沒壽命譜);
2. 時間分辨率≤155ps(使用Co-60測量符合時間譜);
3. 具有一鍵設置功能,自動設置所有測量參數(shù),用戶無需調試直接使用;
4. 具有自動校準功能,在測量過程中始終保持參數(shù)的穩(wěn)定;
5. 能量分辨率≤3.5%@1.275MeV;
6. 時間采樣率≥5G/SPS;
7. 幅度分辨率≥14位;
8. 典型陽極脈沖上升時間≤0.8ns;
9. 典型渡越時間分散≤0.37ns;
10. 具有示波器功能;
11. 能窗自動識別功能;
12. 閃爍體探測器溴化鑭晶體尺寸≥Φ25mm x L15mm;
13. 探測器集成分壓電路、磁屏蔽;
14. 典型計數(shù)率100-200cps;
15. 支持高計數(shù)率模式可達1000cps;
16. 采用Na-22放射源,活度≥20μCi。
l 超高分辨:精選快γ探測器、高速數(shù)字采集卡,結合**信號處理算法,實現(xiàn)Co-60標定時間分辨率小于155ps,1.275MeV處能量分辨率小于3.5%,各項參數(shù)均達到行業(yè)**水平。
l 一機集成:DPLS4000使用模塊化設計,將所有設備集成在機箱中,設備占地面積小,安裝移動快捷,可以在各種場景中使用。
l 一鍵測量:利用AI算法實現(xiàn)自動設置,省去繁復的調試過程,消除使用門檻,真正讓用戶開機即用、一鍵測量。