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介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

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北京縱橫金鼎儀器設(shè)備有限公司

北京

產(chǎn)品規(guī)格型號
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945

產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品名稱:介電常數(shù)測試儀

產(chǎn)品型號:LJD-B、LJD-C、QS-37

符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T1409、GB/T5594

產(chǎn)品用途:固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試

適用材料:橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等

測試范圍:10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ

主要配置:主機(jī)Q表、夾具、電感組成

測試項(xiàng)目:介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、介質(zhì)損耗因數(shù)、介質(zhì)損耗角正切值

使用人群:科研所、教學(xué)、質(zhì)量監(jiān)督局、**單位等

付款方式:全款發(fā)貨

產(chǎn)品品牌:縱橫金鼎

產(chǎn)品貨期:1-3個工作日

產(chǎn)品類別:電性能檢測儀器

ASTM D150-11

實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和

電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法1

本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號;在有修訂的情況下,為上一次的修訂年號;圓括號中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號。上標(biāo)符號(ε)表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。

    本標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)批準(zhǔn)用于國防部所有機(jī)構(gòu)。

1.介電常數(shù)測試儀范圍

1.1 本試驗(yàn)方法包含當(dāng)所用標(biāo)準(zhǔn)為集成阻抗時,實(shí)心電絕緣材料樣本的相對電容率,耗散因子,損耗指數(shù),功率因子,相位角和損耗角的測定。列出的頻率范圍從小于1Hz到幾百兆赫茲。

注1:在普遍的用法,“相對”一詞經(jīng)常是指下降值。

1.2 這些試驗(yàn)方法提供了各種電極,裝置和測量技術(shù)的通用信息。讀者如對某一特定材料相關(guān)的議題感興趣的話,必須查閱ASTM標(biāo)準(zhǔn)或直接適用于被測試材料的其它文件。2,3

1.3  本標(biāo)準(zhǔn)并沒有完全列舉所有的安全聲明,如果有必要,根據(jù)實(shí)際使用情況進(jìn)行斟酌。使用本規(guī)范前,使用者有責(zé)任制定符合安全和健康要求的條例和規(guī)范,并明確該規(guī)范的使用范圍。特殊危險(xiǎn)說明見7.2.6.1和10.2.1。

1 本規(guī)范歸屬于電學(xué)和電子絕緣材料ASTM D09委員會管轄,并由電學(xué)試驗(yàn)D09.12附屬委員分會直接管理。

當(dāng)前版本核準(zhǔn)于2011年8月1日。2011年8月發(fā)行。原版本在1922年批準(zhǔn)。前一較新版本于2004年批準(zhǔn),即為 D150-98R04。DOI:10.1520/D0150-11。

2 R. Bartnikas, 第2章, “交流電損耗和電容率測量,” 工程電介質(zhì), Vol. IIB, 實(shí)心絕緣材料的電學(xué)性能, 測量技術(shù), R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.

3 R. Bartnikas, 第1章, “固體電介質(zhì)損耗,” 工程電介質(zhì),Vol IIA, 實(shí)心絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結(jié)構(gòu)和電學(xué)行為, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.

2.介電常數(shù)測試儀引用文件2.1 ASTM標(biāo)準(zhǔn):4

D374     固體電絕緣材料厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

D618     試驗(yàn)用塑料調(diào)節(jié)規(guī)程

D1082    云母耗散因子和電容率(介電常數(shù))試驗(yàn)方法

D1531    用液體位移法測定相對電容率(介電常數(shù))與耗散因子的試驗(yàn)方法

D1711    電絕緣相關(guān)術(shù)語

D5032    用飽和甘油溶液方式維持恒定相對濕度的規(guī)程

E104     用水溶液保持相對恒定濕度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

E197     室溫之上和之下試驗(yàn)用罩殼和服役元件規(guī)程(1981年取消)5

3.介電常數(shù)測試儀術(shù)語

3.1 定義:

3.1.1 這些試驗(yàn)方法所用術(shù)語定義以及電絕緣材料相關(guān)術(shù)語定義見術(shù)語標(biāo)準(zhǔn)D1711。

3.2 本標(biāo)準(zhǔn)專用術(shù)語定義:

3.2.1 電容,C,名詞——當(dāng)導(dǎo)體之間存在電勢差時,導(dǎo)體和電介質(zhì)系統(tǒng)允許儲存電分離電荷的性能。

3.2.1.1 討論——電容是指電流電量 q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當(dāng)電量采用庫倫為單位,電位采用伏特為單位時,電容單位為法拉,即:

C=q/V           (1)

3.2.2 耗散因子(D),(損耗角正切),(tanδ),名詞——是指損耗指數(shù)(K'')與相對電容率(K')之間的比值,它還等于其損耗角(δ)的正切值或者其相位角(θ)的余切值(見圖1和圖2)。

D=K''/K'     (2)

4 相關(guān)ASTM標(biāo)準(zhǔn),可瀏覽ASTM網(wǎng)站,或與ASTM客服service@********聯(lián)系。ASTM標(biāo)準(zhǔn)手冊卷次信息,可參見ASTM網(wǎng)站標(biāo)準(zhǔn)文件匯總。

5 該歷史標(biāo)準(zhǔn)的較后批準(zhǔn)版本參考網(wǎng)站。

3.2.2.1 討論——a:

D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp        (3)

式中:

G=等效交流電導(dǎo),

Xp=并聯(lián)電抗,

Rp=等效交流并聯(lián)電阻,

Cp=并聯(lián)電容,

ω=2πf(假設(shè)為正弦波形狀)

耗散因子的倒數(shù)為品質(zhì)因子Q,有時成為儲能因子。對于串聯(lián)和并聯(lián)模型,電容器耗散因子D都是相同的,按如下表示為:

D=ωRsCs=1/ωRpCp        (4)

串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關(guān)系滿足以下要求:

Cp=Cs/(1 D2)             (5)

Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2             (6)

4、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入AS2853A),實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計(jì)算的微處理化,tanδ 測量結(jié)果的獲得無須繁瑣的人工處理,因而提高了數(shù)據(jù)的精確度和測量的同一性,是人工讀值和人工計(jì)算無法比擬的。

三、主要技術(shù)特性及配置

主要配置

序號

構(gòu) 成

型 號

數(shù)量

制 造 廠 家

1

主機(jī)

LJD-C

1臺

測試裝置(夾具)

AS916

1臺

標(biāo)準(zhǔn)電感

HLKI-1

1套

2

三電極系統(tǒng)(油中、空氣中) 油中帶油槽

各1套

3

油槽

1臺

4

日常維修工具

1套

說明書

介電常數(shù)測試儀/GB/T1409-2006介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/相對介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗角正切值測試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數(shù)測試儀/工頻介電常數(shù)測試儀/固體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/材料介質(zhì)損耗和電容率測試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數(shù)測試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測試儀/介電常數(shù)及介損測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)高的160MHz.ZJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)。

雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

自動化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動測量。

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

計(jì)算機(jī)自動修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至z低,徹底根除 Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

二、主要技術(shù)特性:

*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 100KHZ-160MHZ

*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)

3.Q值測量范圍:1~1023

4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;

*5.電感測量范圍:1nH~140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能

*6.電容直接測量范圍:1pF~25nF

7.主電容調(diào)節(jié)范圍: 17~240pF

8.準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%

9.信號源頻率覆蓋范圍100kHz~160MHz

10.合格指示預(yù)置功能范圍:5~1000

11.環(huán)境溫度:0℃~+40℃;

12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

13. S916(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:

數(shù)顯式微桿,平板電容器:

極片尺寸: 38mm

極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

夾具插頭間距:25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

測微桿分辨率:0.001mm

測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 介電常數(shù)測試儀/GB/T1409-2006介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/相對介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗角正切值測試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數(shù)測試儀/工頻介電常數(shù)測試儀/固體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/材料介質(zhì)損耗和電容率測試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數(shù)測試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測試儀/介電常數(shù)及介損測試儀電感組LKI-1:

分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。

三、配置:

主機(jī) 一臺

電感 九支

夾具 一套

液體杯 一套

隨機(jī)文件一套

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