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電子散斑干涉(ESPI)實驗裝置

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天津市拓普儀器有限公司(天津市光學(xué)儀器廠)

天津

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關(guān)注度:

702

產(chǎn)品介紹

儀器簡介:

本實驗裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,先進(jìn)的測試技術(shù)。本實驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。

儀器特點:自己調(diào)節(jié)光路,可提高動手能力;

采用了**處理光學(xué)信息的CCD測量技術(shù)

計算機處理圖象,軟件操作簡便

可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。

成套性:CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)節(jié)桿、光學(xué)零件、被測樣品。

技術(shù)參數(shù):

本實驗裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,先進(jìn)的測試技術(shù)。本實驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。

儀器特點:自己調(diào)節(jié)光路,可提高動手能力;

采用了**處理光學(xué)信息的CCD測量技術(shù)

計算機處理圖象,軟件操作簡便

可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。

成套性:CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)節(jié)桿、光學(xué)零件、被測樣品。

主要特點:

本實驗裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,先進(jìn)的測試技術(shù)。本實驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。

儀器特點:自己調(diào)節(jié)光路,可提高動手能力;

采用了**處理光學(xué)信息的CCD測量技術(shù)

計算機處理圖象,軟件操作簡便

可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。

成套性:CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)節(jié)桿、光學(xué)零件、被測樣品。

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