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熱電性能分析系統(tǒng)ZEM-5

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北京柯銳歐科技有限公司

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產(chǎn)品介紹

熱電性能分析系統(tǒng) ZEM-5

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技術(shù)特點(diǎn)：

	ZEM-5HT	ZEM-5HR	ZEM-5LT	ZEM-5TF
特　　點(diǎn)	高溫型	高電阻型 **電阻：10MΩ	低中溫型	薄膜型可測在基板上形成的熱電薄膜
溫度范圍	RT-1200℃	RT-800℃	-150℃-200℃	RT-500℃
樣品尺寸	直徑或正方形：2 to 4 mm²；長度3 ～ 15mm			成膜基板：寬2-4mm，厚0.4-12mm，長20mm 薄膜厚度：≥nm量級(jí) 薄膜樣品與基板要求絕緣
控溫精度	±0.5K
測量精度	塞貝克系數(shù)：＜±７％；　　　　電阻系數(shù)：＜±７％
測量原理	塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法
測量范圍	塞貝克系數(shù)：0.5μV/K_25V/K；電阻系數(shù)：0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ
分辨率	塞貝克系數(shù)：10nV/K；電阻系數(shù)：10nOhm
氣　　氛	減壓Ｈｅ

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熱電性能分析系統(tǒng)ZEM-5

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