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產(chǎn)品性能:

少子壽命測(cè)試儀性能參數(shù)：

測(cè)量原理： QSSPC（準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)）；

少子壽命測(cè)量范圍： 100 ns-10 ms；

測(cè)試模式：QSSPC，瞬態(tài)，壽命歸一化分析；

電阻率測(cè)量范圍： 3–600 (undoped) Ohms/sq.；

注入范圍：10¹³-10¹⁶cm^-3；

感測(cè)器范圍： 直徑40-mm；

測(cè)量樣品規(guī)格 標(biāo)準(zhǔn)直徑: 40–210 mm （或更小尺寸）；

硅片厚度范圍： 10–2000 μm；

外界環(huán)境溫度： 20°C–25°C；

功率要求： 測(cè)試儀: 40W， 電腦控制器：200W ，光源：60W；

通用電源電壓： 100–240 VAC 50/60 Hz；

主要特點(diǎn):

　　適應(yīng)低電阻率樣片的測(cè)試需要，*小樣品電阻率可達(dá)0.1ohmcm

　　全自動(dòng)操作及數(shù)據(jù)處理

　　對(duì)太陽(yáng)能級(jí)硅片，測(cè)試前一般不需鈍化處理

　　能夠測(cè)試單晶或多晶硅棒、片或硅錠

　　可以選擇測(cè)試樣品上任意位置

　　能提供**的表面化學(xué)鈍化處理方法

　　對(duì)各道工序的樣品均可進(jìn)行質(zhì)量監(jiān)控：

　　硅棒、切片的出廠、進(jìn)廠檢查

　　擴(kuò)散后的硅片

　　表面鍍膜后的硅片以及成品電池

少子壽命測(cè)試儀

技術(shù)參數(shù)：

FAQ:

用途、光伏，硅片檢測(cè)

包裝、紙質(zhì)包裝

售后服務(wù):一年保修，終身維護(hù)

用途、光伏測(cè)試

包裝、紙質(zhì)包裝

售后服務(wù)

一年保修