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Zeta電位及納米粒度分析儀
面議
上海捷鈦
Zeta電位及納米粒度分析儀
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Zeta電位及納米粒度分析儀
技術(shù)參數(shù):
粒度分析范圍: 0.3nm-10μm
重現(xiàn)性:誤差≤1%
濃度范圍:ppb-40%
檢測角度:180°
分析時間:30-120秒
準(zhǔn)確性:全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子
測量精度: 無需預(yù)選,依據(jù)實(shí)際測量結(jié)果,自動生成單峰/多峰分布結(jié)果
理論設(shè)計(jì)溫度:0-90℃,可以進(jìn)行程序升溫或降溫
兼容性:兼容任何有機(jī)溶劑及大多數(shù)酸性或堿性溶液
測量原理:
粒度測量:動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理分子量測量:水力直徑或德拜曲線技術(shù):膜電極,微電場電勢測量,“Y"型光纖探針設(shè)計(jì),異相多普勒頻移,可控參比方法,快速傅立葉轉(zhuǎn)換算法,非球形顆粒校正因子
光學(xué)系統(tǒng):
3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器,通過梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,無需校正光路
軟件系統(tǒng):
先進(jìn)的Microtrac FLEX軟件提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力,包括圖形,數(shù)據(jù)輸出/輸入,個性化輸出報(bào)告,及各種文字處理功能,如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),Microsoft Access格式(OLE)等。體積,數(shù)量,面積及光強(qiáng)分布,包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保護(hù),電子簽名和授權(quán)等。
外部環(huán)境:
電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz環(huán)境要求:溫度,10-40°C相對濕度:小于95%
配置:
有內(nèi)置和外置光纖測量探頭可選
Zeta電位及納米粒度分析儀
主要特點(diǎn):﹡采用的動態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法﹡的“Y"型光纖光路系統(tǒng),通過藍(lán)寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場,測量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度變化。﹡的異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強(qiáng)度高出幾個數(shù)量級,提高分析結(jié)果的可靠性。﹡的可控參比方法(CRM),能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度。﹡超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。﹡的快速傅利葉變換算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時間。﹡膜電極設(shè)計(jì),避免產(chǎn)生熱效應(yīng),能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度。﹡無需比色皿,毛細(xì)管電泳池或外加電極池,僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果﹡消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。
全自動電泳凝膠成像分析儀
防爆恒流泵平流泵
耐久性檢測儀
二氧化碳恒溫振蕩細(xì)胞培養(yǎng)箱
高溫高壓光學(xué)浮區(qū)爐
真空高壓高溫?zé)釅籂t
原油有機(jī)氯測定儀
原油密度儀
超聲震動電熱脫水系統(tǒng)
前驅(qū)體三元共沉淀反應(yīng)釜生產(chǎn)線
制冷加熱循環(huán)一體機(jī)
顆粒在線干法動態(tài)圖像分析儀
定制5臺機(jī)連體配套
SEM5000X
防爆觸摸屏/防爆電腦/防爆電腦
金屬回收系統(tǒng)
熱風(fēng)循環(huán)烘箱CT-C系列
自動吸盤振動器離心式G08T
酒精回收塔
低溫催化LCO
干燥機(jī)控制
智能控制系統(tǒng)
PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng)
PROMETHEUS