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粒子掃描系統(tǒng)PS-400C被廣泛用于顆粒（粒子）的光學(xué)質(zhì)量控制，對應(yīng)期望處理量的不同，系統(tǒng)可以檢測100微米以上的缺陷比如黑點、色差以及其他用戶定義缺陷， 并將缺陷分為10個尺寸級別。此系統(tǒng)設(shè)計用于粒子生產(chǎn)原料的質(zhì)量控制。所有的檢測過程全自動執(zhí)行，每個粒子都無遺漏地被檢測分析。其主要應(yīng)用于

PS-400C由機械部分和控制工作站兩部分組成。機械裝置負(fù)責(zé)待檢測粒子的收集、分離并分散通過檢測單元。

工作站包含圖像處理單元和評估圖像的硬件，用戶界面如用戶對話框通過顯示器和鍵盤操作，圖像可以在顯示器上顯示出來。

粒子樣品先放置于料斗中，一個機械分離器使得粒子樣品分散通過檢測模塊，此處兩個相向配置的攝像機從兩面拍攝獲得材料的影像。