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高分辨率、準確性、重現(xiàn)性的分析結果

顆粒粒度測量技術在過去的幾十年里得到了長足的發(fā)展，其中一個*重要的貢獻，是在這一領域中應用了激光技術，同時也運用了現(xiàn)代光電探測器和數(shù)字電腦處理技術。一段時間以來，激光散射技術的進展使分析速度更快，但是往往由于檢測器的不足，使所獲得的測量數(shù)據受到很大的限制。

美國麥克儀器公司認識到需要有更好的檢測能力的檢測器，所以針對性地研發(fā)出了采用激光二極管和一個現(xiàn)代化的電荷耦合器件（CCD）檢測器相結合的激光散射儀器。

• 采用航天級的電荷耦合器CCD檢測器保證儀器獲得極高的分辨率和**的數(shù)字化散射圖樣，以獲得極高重復性的結果

• 真正的全自動分析儀，確保*快的分析速度

• 全Mie理論，消除了軟件修正帶來的誤差

• 可以完全區(qū)分粒徑相差10%甚至更小的顆粒

• 完整的軟件輸出報告

• 符合美國FDA21 CFR Part 11要求的軟件

• 可選自動進樣器等多種配件完全符合ASTM D4464、ASTM C1070、ASTM B822、ISO 13320等國際標準

• 粒度測試范圍：0.04~2500μm，內置高效分散器

• 極小的死體積，保證樣品的均勻性

• **輸出功率達9mW的固體半導體激光器