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全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀SediGraph III PLUS
SediGraph®Ⅲ Plus全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀 |
SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過(guò)對(duì)X-射線的吸收測(cè)量可以直接檢測(cè)分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測(cè)定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降,即可以運(yùn)用Stokes方程來(lái)計(jì)算顆粒的等效球直徑。在這種情況下,報(bào)告中的粒徑就是與測(cè)試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。
• 儀器與配件報(bào)價(jià) • 聯(lián)系我們• 產(chǎn)品培訓(xùn)
在過(guò)去的四十多年中,美國(guó)麥克儀器公司的SediGraph是全世界許多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。無(wú)論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專業(yè)的化驗(yàn)室,SediGraph憑借其**的可靠性得出精確的測(cè)量結(jié)果。粒徑分布的測(cè)量采用沉降法,顆粒通過(guò)直接吸收X射線而被測(cè)量。根據(jù)Stockes定律,通過(guò)測(cè)量粒子在液體中的沉降速率,得出粒子粒徑大小,粒徑分析范圍為0.1~300μm。
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SediGraph III Plus 粒度分析儀先進(jìn)的設(shè)計(jì)確保了測(cè)量的重復(fù)性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易,日常維護(hù)更加簡(jiǎn)單。并且能夠確保對(duì)同一樣品,在任意一臺(tái)SediGraph儀器上都能獲得重復(fù)性極高的結(jié)果。
• 簡(jiǎn)化泵系統(tǒng),確保快速分析和易于維護(hù)
• 降低噪聲,提供更加安靜的工作環(huán)境
• 維護(hù)提醒裝置,根據(jù)總測(cè)試量,提示用戶進(jìn)行定期維護(hù)
• 電腦控制混合室溫度,提高測(cè)試可重復(fù)性
• Windows操作軟件,以太網(wǎng)連接,可進(jìn)行點(diǎn)擊式選擇菜單,聯(lián)網(wǎng)工作,打印機(jī)選擇,剪切和粘貼等操作
• 多功能和交互式報(bào)告系統(tǒng),能夠提供多種類型的報(bào)告,例如顆粒沉降速度和粒度(以Phi為單位)
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BT-9300S
Winner2000B
online
S3500系列
Spraytec
ANALYSETTE 22 MicroTec plus
DP-02型
MET ONE FMS
HELOS-RODOS
NKT5200-H
LA-300 、LA-920
JZ-7