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全自動Χ光沉降粒度分析儀SediGraphⅢPlus

直接聯(lián)系

麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司

美國

產(chǎn)品規(guī)格型號

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產(chǎn)品介紹

SediGraph^®Ⅲ Plus

全自動X光沉降粒度分析儀

SediGraph全自動Χ光沉降粒度分析儀使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。

久經(jīng)考驗的技術(shù)和可靠性

在過去的三十多年中，麥克儀器公司的SediGraph沉降粒度分析儀是全世界許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專業(yè)的化驗室，SediGraph憑借其**的可靠性得出精確的測量結(jié)果。粒徑分布的測量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據(jù)Stockes定律，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1-300μm。

智能設(shè)計特色

SediGraph III Plus沉降粒度分析儀先進的設(shè)計確保了測量的重復(fù)性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復(fù)性極高的結(jié)果。

簡化泵系統(tǒng)，確?？焖俜治龊鸵子诰S護
降低噪聲，提供更加安靜的工作環(huán)境
維護提醒裝置，根據(jù)總測試量，提示用戶進行定期維護
電腦控制混合室溫度，提高測試可重復(fù)性
Windows操作軟件，以太網(wǎng)連接，可進行點擊式選擇菜單，聯(lián)網(wǎng)工作，打印機選擇，剪切和粘貼等操作
多功能和交互式報告系統(tǒng)，能夠提供多種類型的報告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）

多項功能

完整的顆粒分析，能夠確保對樣品中的所有顆粒全部進行分析，包括粒徑大于 300μm和小于0.1μm的部分
能夠與其他粒徑測得的數(shù)據(jù)相結(jié)合，使數(shù)據(jù)報告范圍可擴展至125，000μm (125mm)，在地質(zhì)學(xué)方面具有很好的應(yīng)用
自下而上地掃描沉降室，能夠準確的獲取沉降顆粒的總數(shù)，同時*小化顆粒分離所需的時間
全自動操作模式能夠增加分析樣品總數(shù)，并且能夠減少人為操作步驟，以降低由人為操作造成的測量誤差
控溫分析可確保在整個分析過程中液體的性質(zhì)不發(fā)生任何變化，以獲取精確的分析結(jié)果
多種分析速度，可根據(jù)實際需要選擇所需的速度和分辨率

實時顯示，能夠監(jiān)控當前分析的累積質(zhì)量圖，以便根據(jù)需求立即修正分析程序
統(tǒng)計過程控制（SPC）報告能夠跟蹤過程性能，便于立即對變化做出響應(yīng)
多圖疊加功能，能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進行可視化比較，例如：與參考樣品或基線疊加，或者將同一分析數(shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加
數(shù)據(jù)比較圖，能夠提供兩套數(shù)據(jù)組（不同于參考圖）圖形顯示的數(shù)學(xué)差或某個數(shù)據(jù)點高于/低于誤差范圍的程度（指定圖以外）
能夠使用同一臺計算機同時控制兩臺SediGraph，節(jié)約寶貴的實驗室空間，方便數(shù)據(jù)存儲

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