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儀器簡介：

全新的電子光學系統(tǒng)靈敏度高，即使在*復(fù)雜的表面化學分析中，如傳統(tǒng)的材料和合成生物技術(shù)，納米以及制藥行業(yè)中，K-Alpha都可以進行詳細分析。其特點是對小材料的分析能力，并結(jié)合高靈敏度，實現(xiàn)快速、化學態(tài)成像采集。完整的離子源提供了高分辨率的深度形態(tài)分析，因此完成真正的三維分析。

結(jié)構(gòu)緊湊的設(shè)計以及內(nèi)置系統(tǒng)校正特色，正是實現(xiàn)了目前賽默飛世爾公司產(chǎn)品所倡導(dǎo)的分析產(chǎn)品的宗旨：功能強大，低運行成本。

技術(shù)參數(shù)：

K-Alpha光電子能譜儀(XPS)

表面分析中一盞閃耀明燈

● 微聚焦單色化XPS，高精度鑒別化學態(tài)

● 全自動操作，快速準確地分析表面化學表征

● 高靈敏度化學成像

● 高分辨率深度剖析

● 可進行包括絕緣樣品在內(nèi)各種樣品的小面積XPS分析

● 使用獨特的反射光學系統(tǒng)輕松對準分析區(qū)域

● **技術(shù)的自動中和裝置

● 大大改善了儀器使用的簡便性、安全性和穩(wěn)定性

● 穩(wěn)固保持儀器**性能，可隨時自動校準儀器參數(shù)

● **限度提高了樣品分析通量

● 堅固和一體化設(shè)計

良好的性價比，降低了使用者成本

主要特點：

K-Alpha XPS可以對固體材料進行納米級表面化學成分的定量分析。無論是絕緣體，半導(dǎo)體以及金屬物質(zhì)，在用戶友好型界面下，全自動、穩(wěn)定地完成檢測。這款創(chuàng)新的檢測系統(tǒng)特別為高通量樣品分析所設(shè)計，并且結(jié)合了獨特的數(shù)據(jù)處理運算方法，從而實現(xiàn)了從數(shù)據(jù)采集，數(shù)據(jù)解析到生成報告的自動化。