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>ARL QUANTX能量色散X-熒光光譜儀(EDXRF)

ARL QUANTX能量色散X-熒光光譜儀(EDXRF)

直接聯(lián)系

賽默飛世爾科技元素分析(Elemental)

美國(guó)

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
參考報(bào)價(jià):

面議

關(guān)注度:

1223

產(chǎn)品介紹

技術(shù)參數(shù):

ARL Quant’X 熒光能譜儀

應(yīng)對(duì)RoHS指令 ――快速分析

超大Si(Li) 晶體,具有極高的痕量分析的靈敏度,打破lng的檢測(cè)限壁壘

全數(shù)字脈沖處理器技術(shù),死時(shí)間達(dá)60%, 以及優(yōu)異的峰背比

高級(jí)FP無(wú)標(biāo)樣分析軟件,進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣分析,減少對(duì)標(biāo)樣的依賴性

高靈敏電制冷Si(Li) 探測(cè)器技術(shù), 儀器免維護(hù)和零費(fèi)用運(yùn)行

超大樣品室,可容納300mm*(乘號(hào))400mm的樣品

全自動(dòng)校準(zhǔn),自動(dòng)監(jiān)測(cè),自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng),完全計(jì)算機(jī)控制

鍍層和薄膜測(cè)量技術(shù), 具有無(wú)標(biāo)樣分析測(cè)厚技術(shù)

主要特點(diǎn):

ARL Quant’X 熒光能譜儀

具有廣泛的應(yīng)用如:ROHS-WEEE電子廢棄物中重元素分析,各種合金及貴金屬成分分析,環(huán)境污染氣溶膠的測(cè)度, 考古文物保護(hù),刑偵痕量分析,營(yíng)養(yǎng)品分析,磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體的薄膜渡層厚度分析,各種油品中成分分析,納米至微米鍍層厚度測(cè)量,土壤,催化劑,礦石,原材料等.

用于材料的無(wú)損分析可選擇液氮致冷或電致冷Si(Li) 探測(cè)器 從氟至鈾的多元素分析測(cè)定的濃度范圍一般可以從ppm級(jí)至100% 技術(shù)參數(shù)

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ARL QUANTX能量色散X-熒光光譜儀(EDXRF)

賽默飛世爾科技元素分析(Elemental)

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