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納米粒度儀

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納米粒度及Zeta電位分析儀

納米粒度及Zeta電位分析儀

直接聯(lián)系

澳譜特科技(上海)有限公司

上海

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報價:

面議

品牌:

澳譜特科技

型號:

納米粒度及Zeta電位分析儀

關(guān)注度:

957

產(chǎn)品介紹

Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細(xì)小,其表面的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,從而在電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)活性等方面表現(xiàn)出獨(dú)特的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數(shù),準(zhǔn)確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關(guān)鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩(wěn)定性的關(guān)鍵參數(shù),Zeta電位越高,膠體系統(tǒng)就越穩(wěn)定,反之,Zeta電位越低,膠體系統(tǒng)穩(wěn)定性就越差,因此通過測量和調(diào)整體系的Zeta電位,就可以控制膠體的穩(wěn)定性。因此,Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制以及科學(xué)研究。

技術(shù)類型

Zetatronix?939系列 查看詳情

采用多角度動態(tài)光散射技術(shù),提供更高分辨率的粒度測量結(jié)果

Zetatronix?929系列 查看詳情

采用背向動態(tài)光散射技術(shù),可以測量高濃度樣品的粒度

Zetatronix?919系列 查看詳情

采用經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)測量粒度

經(jīng)典動態(tài)光散射(DLS)


背向動態(tài)光散射(BSDLS)


多角度動態(tài)光散射(MADLS)



測量角度

11°、90°、175°

11°、175°

11°、90°

測量類型




粒度

Zeta電位

分子量


溫度/時間趨勢


產(chǎn)品咨詢

納米粒度及Zeta電位分析儀

納米粒度及Zeta電位分析儀

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納米粒度及Zeta電位分析儀 - 957
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