粉體行業(yè)在線(xiàn)展覽
FESEM
面議
碩陽(yáng)
FESEM
4475
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率,能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀(guān)察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理,在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上,低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀(guān)察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等,獲得忠實(shí)原貌的立體感極強(qiáng)的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能x射線(xiàn)能譜儀,能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線(xiàn)面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。
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YH MIP-0103型
P100
OPTM series
AFM5500M
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JEM-ARM200F NEOARM
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